誤差率：
分辨率：
1%重現(xiàn)性：
儀器原理：
動(dòng)態(tài)光散射分散方式：
測(cè)量時(shí)間：
60s測(cè)量范圍：
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FT-342雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀
FT-342 Double electric four-probe resistance ratio tester
一.應(yīng)用說明Widely used：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，
covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating layer. resistance. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance .semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive
二．描述Description：
采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
規(guī)格型號(hào)/ model | FT-342 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-4～2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-5～2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流Test current | 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度Current | ±0.2% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測(cè)試方式 | test mode雙電測(cè)量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差errors | ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
三.參數(shù)資料 Parameters
儀器精密，操作簡(jiǎn)單。
智能粉體特性綜合測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)分析1）.高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊；2）.7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示，并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測(cè)試儀與非智能型比較優(yōu)勢(shì)分析 一、 功能對(duì)比：1.1.自動(dòng)型特點(diǎn)：通過高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊；觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過程和測(cè)試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系，2.描述粉體在粒度、含水量、溫濕度、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊：提供壓力，高度
2020-03-05
四探針電阻率測(cè)試儀是一款主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專用儀器。四探針電阻率測(cè)試儀對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的
一、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards：ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060；USP2
LX-9830G 恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀詳情介紹操作流程及步驟：1. 接通電源，開機(jī)2. 設(shè)置好測(cè)試條件.
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