誤差率:
分辨率:
0.01重現(xiàn)性:
儀器原理:
其他分散方式:
測量時間:
60s測量范圍:
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電阻率/方阻測試儀的功能
一.應(yīng)用說明Widely used:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇,
covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating layer. resistance. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance .semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive film glass. etc.). metal film.Conductive paint film, evaporation aluminum membrane. PCB copper foil membrane. EMI coating materials such as sheet resistance and resistivity of conductive paint. conductive paste and conductive plastic. conductive rubber. conductive film. metal film. anti-static materials. EMI shielding materials. conductive fiber. conductive ceramics. etc..
電阻率/方阻測試儀的功能
二.描述Description:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
規(guī)格型號/ model | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5~2×105Ω/□ | 10-4~2×105Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×104Ω /□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×104Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-6~2×106Ω-cm | 10-5~2×106Ω-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×105Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm |
3.測試電流Test current | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA | 1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA | 0.1μA.μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA | 0.1μA、1μA、10μA,100μA,1mA,10mA,100mA | 1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA |
4.電流精度Current | ±0.1% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.2% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy | ±0.3% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.3% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy | ≤0.5% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |||||
7.測試方式 | test mode雙電測量Double electrical measurement | |||||
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.誤差errors | ≤3%(標準樣片結(jié)果)(standard samples) | |||||
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | |||||
11.測試探頭test probe | 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
智能粉體特性綜合測試儀優(yōu)勢及特點分析1).高精度自動化測量技術(shù),智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊;2).7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通過PC軟件曲線圖位表示,并自動生成
2020-03-05
智能粉體特性測試儀與非智能型比較優(yōu)勢分析 一、 功能對比:1.1.自動型特點:通過高精度自動化測量技術(shù),智能化測量系統(tǒng),采用集成電路系統(tǒng)模塊;觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存:測試過程和測試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系,2.描述粉體在粒度、含水量、溫濕度、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準功能模塊:提供壓力,高度
2020-03-05
四探針電阻率測試儀是一款主要用于測量粉末材料電阻率試驗的專用儀器。四探針電阻率測試儀對于半導(dǎo)體材料的電阻率,一般采用四探針、三探針和擴展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測量電阻率的
一、 參照標準Meet the standards:ASTM標準b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060;USP2
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壓實密度和粉末電阻率-粉體和顆粒測試儀器方案壓實密度和粉末電阻率是粉體和顆粒測試中常用的兩個指標。針對這兩個指標,包括以下幾種:壓實密度測試儀:壓實密度測試儀是一種用于測量粉體或顆粒密度的儀器。它通過