測量范圍：
10-7誤差率：
分辨率：
3%重現(xiàn)性：
分散方式：
測量時間：
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超高阻雙電四探針測試儀的步驟
一.概述Overview：
四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率，可以測試到1010Ω方阻值，液晶顯示， AD芯片控制，恒流輸出， 四探針雙位測量、參考美國 A.S.T.M 標準。中或英文語言版本.
The four probe method tests the resistance and resistivity of the high resistance material . It can test to1010Ω resistance value. Liquid crystal display. high precision AD chip control. constant current output. Four probe double bits measurement.
Refer to the American A.S.T.M. standard.Chinese or English language versions.
超高阻雙電四探針測試儀的步驟
二.適用范圍：
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試covering film;Conductive polymer film. high and low temperature electric film;Insulation. anti-radiation conductive film (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels and alloy foil films. Smelting. sintering. sputtering. coating. coating. resistive. Capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductor materials. thin-film material resistance testing.
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等.
Silicon block. chip resistance rate and diffusion layer. epitaxial layer. ITO conductive foil. conductive rubber materials such as square resistance semiconductor materials/wafer. solar cells. electronic components. conductive film (ITO conductive film glass. etc.). metal film. conductive film. aluminium film evaporation. PCB copper foil membrane. EMI coating materials such as sheet resistance and resistivity of conductive paint. conductive paste and conductive plastic. conductive rubber. conductive film. metal film. anti-static materials. EMI shielding materials. conductive fiber. conductive ceramics. etc.
超高阻雙電四探針測試儀的步驟
三.參數(shù)資料Parameters：
規(guī)格型號model | FT-371A | FT-371B | FT-371C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10-4～1×107Ω/□ | 10-4～1×109Ω/□ | 10-4～1×1010Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 10-5～2×108Ω-cm | 10-5～2×1010Ω-cm | 10-5～2×1011Ω-cm |
3.測試電流范圍test current | 10mA ---200pA | 10mA ---20pA | 10mA ---2pA |
4.電流精度current accuracy | ±2% | ±2% | ±5% |
5.電阻精度resistance accuracy | ≤10% | ≤10% | ≤15% |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | ||
7.測試方式test mode | 組合雙電測試方法combined double electric test method | ||
8.工作電源working power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30W | ||
9.誤差errors | Machine uncertain≤15% | ||
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform | ||
11.測試探頭test probe | 探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. | ||
四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率，可以測試到1010Ω方阻值，液晶顯示， AD芯片控制，恒流輸出， 四探針雙位測量、參考美國 A.S.T.M 標準。中或英文語言版本.
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