誤差率：
分辨率：
1%重現(xiàn)性：
儀器原理：
圖像分析分散方式：
測量時(shí)間：
30s測量范圍：
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手持式四探針方阻測試儀
一.概述Overview：
參照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》，采集集成電路恒流源系統(tǒng)，提供便捷的操作模式，便攜式外型結(jié)構(gòu)，可充電式電源系統(tǒng)，待機(jī)時(shí)間長，上下限設(shè)定.
手持式四探針方阻測試儀
二.功能介紹Function introduction：
手持式外型結(jié)構(gòu)適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢，外出、攜帶測量等要求測量的場所；也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).
手持式四探針方阻測試儀
三.技術(shù)參數(shù)Technical Parameters：
規(guī)格型號Specification model | FT-391A | FT-391B | FT-391C |
1.方塊電阻范圍sheet resistance | 10～2.00×102Ω/□ | 10～2.00×103Ω/□ | 10～2.00×104Ω/□ |
2.電阻率范圍resistivity | 1～2×103Ω-cm | 1～2×104Ω-cm | 1～2×105Ω-cm |
3.分辨率resolution | 0.01Ω | 0.01Ω | 0.01Ω |
4.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. | ||
5.測試方式test mode | 單電測量single electrical measurement | ||
6.工作電源working power | 5V.1000mA | ||
7. 誤差errors | ≤4.5%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果standard samples） | ||
8.選配choose to buy | 選配1.方形探頭； 選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 選配4：探針材質(zhì)：碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles. | ||
----我們一直在做：研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、租賃、實(shí)驗(yàn)室樣品分析及后延擴(kuò)展服務(wù)
手持式外型結(jié)構(gòu)適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢，外出、攜帶測量等要求測量的場所；也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).
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2020-03-05
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2020-03-05
2020-03-05
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2020-03-05
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