誤差率:
.波長準確度:
<± 0.5 nm靈敏度:
.分辨率:
.重現(xiàn)性:
.儀器原理:
光學計數分散方式:
.測量時間:
.測量范圍:
.看了PDA紫外可見分光光度計的用戶又看了
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KLAB分光光度計---PDA紫外可見分光光度計 核心參數
儀器結構: | 單光束 | 接收器: | 光電二極管 |
波長范圍: | 紫外-可見 | 自動化: | 自動波長 |
波長范圍: | 190 to 1100 nm | 波長準確度: | <± 0.5 nm |
波長重復性: | <± 0.1 nm | 帶寬: | 1.0 nm (190 to 1100 nm) |
詳細介紹
OPTIZEN Alphalook
通過使用光電二極管陣列檢測器同時收集和處理紫外可見光范圍內的所有波長的光,該裝置可以減少分析時間并降低實驗中的誤差。PDA 紫外可見分光光度計采用了簡約jing準的光學計,可在短時間內掃描紫外線、可見光及近紅外范圍的所有波長。還可以確認所需的波長的數據結果。此外,通過使用兼容的配件,該產品可以非常方便地處理復雜的樣品或大量樣品。
OPTIZEN Alphalook是可以利用光電二極管陣列一次性實時測量紫外線、可見光、近紅外(190nm~1100nm)光的波長的分光光度計。測量全波長范圍所需的時間是2秒左右,適合用于波長的反復分析或是光譜動態(tài)特性的確認以及多種波長范圍中的定量分析。還可以通過外面的一鍵式按鈕來測量樣品,可以與安卓平板電腦和Windows電腦兼容。
產品規(guī)格 | |||
光度計系統(tǒng) | 光電二極管陣列, PDA | 典型的掃描時間 | 2s [全范圍] |
光譜帶寬 | 1.0 nm (190 to 1100 nm) | 標準比色皿架 | 單聯(lián)比色皿 |
波長范圍 | 190 to 1100 nm | 其他接口 | USB & 藍牙 |
波長顯示(設置) | 0.1 nm | 檢測器 | 光電二極管陣列 |
波長準確度 | <± 0.5 nm | 線路電壓 | 90~264 VAC |
波長重復性 | <± 0.1 nm | 線頻率 | 47~63 Hz |
光度準確度 | <± 0.005 Abs | 外形尺寸尺寸(WxDxH) | 586.9 x315 x203 mm |
光度穩(wěn)定性 | < 0.001 Abs/h | 操作系統(tǒng) | Windows / Android |
光度噪聲 | 0.001 Abs | 重量 | 14.52 kg |
光源 | 鎢鹵燈和氘燈 |
產品優(yōu)勢
OPTIZEN Alphalook主要特征
-使用簡便的界面
-與臺式電腦和平板電腦相互兼容數據
-支持平板大畫面彩色觸摸屏
-支持云打印及藍牙連接
-利用外部按鈕簡單快速進行測量
-防止異物損壞高精密光學配件的石英鍍膜處理
-利用手動螺絲,方便更換比色皿座
-可實時確認燈的使用時間
-支持高分辨率(2550*1600)
-為方便用戶使用,提供平板電腦托架
-在電源供應不穩(wěn)定的情況下也不需要使用變壓器或是電壓穩(wěn)定器
-分析的資料可轉換為PDF及EXCEL
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