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面議型號
HCLUE品牌
HORIBA產(chǎn)地
上海樣本
暫無誤差率:
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-儀器原理:
其他分散方式:
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儀器簡介:
電子束入射到樣品上,即可用光學(xué)方法接收并分析陰發(fā)光(CL),從而提供樣品詳細的物理特性。它是一種無損的分析方法,結(jié)合電鏡可提供與形貌相關(guān)的高空間分辨率光譜結(jié)果,是納米結(jié)構(gòu)和體材料的獨特分析工具。
HCLUE是一款基于反射鏡耦合優(yōu)化的CL系統(tǒng),結(jié)合了Jobin Yvon光譜技術(shù)制造的光譜儀模塊,具有高靈敏度性能,適用于弱信號測量??赏瑫r配備兩個探測器,以獲得更大光譜范圍。
主要特點:
● 反射鏡直接耦合
● 高靈敏度
● 掃描成像、線掃描、點測量
● 多種光柵選項
● 多種焦長光譜儀選項:320mm-550mm
● 可配雙探測器以獲得大光譜范圍:185nm-2500nm
重點應(yīng)用領(lǐng)域:
陰發(fā)光光譜儀(CL)是用來表征材料中的缺陷,元素和雜質(zhì)追蹤的強大分析工具,廣泛適用于各個應(yīng)用領(lǐng)域。
1、材料科學(xué)
● 半導(dǎo)體和光電材料
● 介電/陶瓷
● 氧化物膜
● 玻璃
2、礦物、地質(zhì)
● 碳酸巖
● 晶體
● 金剛石
● 鋯石、方解石、白云石
3、生命科學(xué)
4、公安
CL光譜及成像:
■CL光譜:使用CL測量光譜時,可在電鏡下觀察并選擇待測樣品區(qū)域。 | ■快速CL成像:將掃描電子束與您的光譜儀同步,提供快速成像方案。使用HCLUE系統(tǒng)測量的GaN樣品,測量中使用了超快SWIFTTM成像模式。 |
礦物樣品中的白云石和磷酸鈣。測量使用Flex-CLUE系統(tǒng),配備iHR320光譜儀和開放電式CCD探測器。感謝Prof A. Jambon, UPMC France提供數(shù)據(jù) |
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