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UVISEL Plus品牌
HORIBA產(chǎn)地
上海樣本
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-分辨率：
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其他分散方式：
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-測量范圍：
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儀器簡介：
橢圓偏振光譜是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù)，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。
技術(shù)參數(shù)：
* 光譜范圍: 190-885 nm（可擴(kuò)展至2100nm）
* 微光斑可選50μm-100μm-1mm
* 探測器：分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的PMT和IGA探測器
* 自動樣品臺尺寸：多種樣品臺可選
* 自動量角器：變角范圍40° - 90°，全自動調(diào)整，小步長0.01°
主要特點(diǎn)：
* 50KHz 高頻PEM 相調(diào)制技術(shù)，測量光路中無運(yùn)動部件
* 具備超薄膜所需的測量精度，超厚膜所需的高光譜分辨率
* 具有毫秒級超快動態(tài)采集模式，可用于在線實時監(jiān)測
* 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件
* 配置靈活
暫無數(shù)據(jù)！
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2024 年 11 月 29 日，隨著結(jié)業(yè)證書逐一頒發(fā)到學(xué)員手中，HORIBA 2024 年度用戶培訓(xùn)班畫上了圓滿的句號。用戶培訓(xùn)班作為客戶服務(wù)的重要一環(huán)，不僅彰顯了 HORIBA 對高質(zhì)量培訓(xùn)的堅定
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