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面議型號
ZKFT-1600品牌
中科微納產(chǎn)地
中國樣本
暫無誤差率:
0.5%分辨率:
2592 x 1944 (Approx.5,040,000像素)重現(xiàn)性:
1%儀器原理:
圖像分析分散方式:
無測量時間:
可調(diào)測量范圍:
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ZKFT-1600圖像顆粒分析儀
一、產(chǎn)品簡介
ZKFT-1600圖像顆粒分析儀包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過專用數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸?shù)诫娔X中,通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統(tǒng)計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結(jié)果。
ZKFT-1600直觀、形象、準確特點,它是將微米級以上的顆粒放大幾十、數(shù)百乃至上千倍,將整個顆粒形狀顯示在人們的眼前,使人一目了然。它不僅能看到顆粒,還能通過“尺子”來量每一個顆粒的大小,并通過圖像處理技術(shù)得到所有顆粒的直徑,進而得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等。ZKFT-1600為粉體材料的科研、生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域增添了一種直觀、簡便、準確的粒度粒形測試手段。
ZKFT-1600靜態(tài)圖像顆粒分析儀還具有很多獨特圖像處理功能,包括自動拍攝、自動分割、自動填充、批處理多幅圖像、準確性標定等。其中眾多的“自動”功能簡化了操作,提高了效率;批處理多幅圖像功能,徹底克服了傳統(tǒng)的靜態(tài)圖像顆粒分析儀僅能分析單幅圖像,導(dǎo)致顆粒數(shù)太少,代表性不足,結(jié)果不準確的問題。它可以拍攝很多幅圖像,對這些圖像一幅一幅地處理,每一幅處理過的圖像上的顆粒都匯集到一起,提高了代表性。
二、產(chǎn)品特點:
出色的外觀設(shè)計,符合人機工程學(xué)的結(jié)構(gòu)設(shè)計
機身一體化的設(shè)計,使產(chǎn)品長期保持優(yōu)異穩(wěn)定性能
優(yōu)質(zhì)的3WLED照明,穩(wěn)定和超常使用壽命
無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng),普通光學(xué)校正系統(tǒng),可滿足不同用戶的需求
三、主要應(yīng)用領(lǐng)域:(觀察粒形、分析粒度、監(jiān)測大顆粒)
磨料:如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。
電池材料:球形石墨粉等。
金屬粉:如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。
非金屬粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等。
針狀粉:如硅灰石等。
生物制劑:如細胞。
食品:如牛奶、面粉等。
其他:如科研、教學(xué)等。
四、測試原理
標定方法:用顯微鏡專用標準刻度尺直接標定每個像素的尺寸,再根據(jù)每個顆粒圖像面積所占的像素多少來度量顆粒的大小,以微米為單位。
測試原理:通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計,計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積,從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等。為計算方便,ZKFT-1600圖像顆粒分析儀是以100個像素為一個計量單位的。
粉末顆粒圖像分析儀粉末顆粒圖像分析儀分析系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸?shù)诫娔X中,通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統(tǒng)計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結(jié)果。
顆粒粒度儀直觀、形象、準確特點,它是將微米級以上的顆粒放大幾十、數(shù)百乃至上千倍,將整個顆粒形狀顯示在人們的眼前,使人一目了然。它不僅能看到顆粒,還能通過“尺子”來量每一個顆粒的大小,并通過圖像處理技術(shù)得到所有顆粒的直徑,進而得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等。BT-1600為粉體材料的科研、生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域增添了一種直觀、簡便、準確的粒度粒形測試手段。
首先*步需要測試體積電阻值和表面電阻值,然后根據(jù)試樣的尺寸和電極系數(shù),根據(jù)計算公式得到體積電阻率和表面電阻率,體積和表面電阻測試時,對電壓試樣的位置不同,從而能夠不同的電阻值在接和未接試樣時電容的變化
2021-11-22
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