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TECNAI G2 F30品牌
FEI產(chǎn)地
日本樣本
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0.5分辨率：
0.1nm重現(xiàn)性：
0.5儀器原理：
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TECNAI G2 F30 是一臺多功能、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等）進行方便靈活地有機組合，形成了強大的分析功能，從而在同類型儀器中獨占鰲頭。除具有200KV的各種優(yōu)點外，TECNAI G2 F30提供了300KV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質量、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析。 TECNAI G2 F30的主要功能是TEM形貌觀察及HRTEM，SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、MAPPING。廣泛應用于材料、化學、物理、地質、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域.
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