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是二維表面粗糙度測量儀、三維表面粗糙度測量儀和輪廓形狀測量儀**水平的組合，一體化的合理的測量儀器狀解析記錄模式三種功能，

技術(shù)參數(shù)：

二維粗糙度：

測量參數(shù)：Ra、Rq、Ry、Rmax、Rt、Rz、Rz5、Rz3、R3z、R3zmax、RzmaxD、RzD、Sk、Ku、Pc、HSC、PPI、Rpm、Sl、Sm、S、Rp、Rv、a、q、a、q、a、q、K、tp、BC、ADC、FFT、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、WcA、WCM、WEA、WEM、真直度、離差、坐標

放大倍率：豎直50 ~500，000 水平1~5000

測量范圍：豎直 600m 水平100mm

評價長度：0.25， 0.8， 2.5， 8， 25， 80mm / 任意(0.2mm以上) / C x1， x2， x3， x4， x5

自動水平調(diào)整：*小二乘法， 二點法， R曲線修正， 二次曲線修正，

輔助功能：自由畫面設(shè)計記錄， 圖表模版， 平均處理， 統(tǒng)計處理， 去除缺陷后測量， 再計算，探測器登記，留言記錄， 自動靈敏度校正， 公制/英制變換， 自動測量， 去除處理， 輪廓圖放大縮小。

三維粗糙度

分析項目：平面圖、等高線圖 / 微分濃淡圖 / 標高表示圖

鳥瞰圖(水平， 俯角可變): 掃描圖 / 細格圖 / 等高線圖 / 微分濃淡圖

三維分析值: SRp / SRv / SRmax / SRa / SGr / SSr / SRe / SRq / SRsK / Sa / Sa / Spc / 標高

粒子分析: 山(或谷)粒子的密度， 平均面積， 平均體積，

平均直徑圖形: FFT/ BC

測量范圍：Z 600m X 100mm Y 100mm

輔助功能：分析和數(shù)據(jù)采集同時進行 / 部分選取 / 水平調(diào)整 / 三維數(shù)據(jù)的任意方向的二維分析

傳送速度：0.05， 0.1， 0.2， 0.5， 1， 2mm/S高速移動速度5， 10mm/S以及手動

截止值：粗糙度 C 0.025， 0.08， 0.25， 0.8， 2.5， 8 mm，無截止，起伏fl 0.8， 2.5， 8， 25mm， fh 0.08， 0.25， 0.8， 2.5mm

過濾方式：高斯型， 2CR， 特殊高斯型

探測器上下移動：探測器上下移動范圍250mm， 自動下降/上升精度 0.2m/100mm以內(nèi)(使用制動時)

真直度測量精度：0.2m / 100mm

探測器：觸針: R2m金剛石， 測量力0.7mN 制動: R40(測量方向) R2m 藍寶石

輪廓形狀測量

分析項目對中 : 原點移動， 旋轉(zhuǎn)， 反轉(zhuǎn)， 移動

要素分析: 點， 線， 圓， 山， 谷， 交點， 中點， 接點 / 定標器量: 座標差， 距離， 交角

測量范圍：豎直50mm 水平100mm

傳送速度：0.02， 0.05， 0.1， 0.2， 0.5， 1.2 mm / S 高速移動速度2， 10mm/S 以及手動

輔助功能：自由畫面設(shè)計記錄， 圖表模版， 宏觀功能， 輪廓放大縮小， 數(shù)字式圓弧修正， 防止過載 震動器， 上下正反兩方向測量

探測器上下移動范圍： 200mm

真直度測量精度：1m / 100mm

探測器：R25m 10~30mN超硬， 追蹤角度： 上攀77度， 下移87度

尺寸/ 質(zhì)量、測量部600  395  593mm / 80Kg 計算部900  600  520mm / 30Kg

電源：AC 100V 800VA 50/60Hz

主要特點：

三維粗糙度測量

數(shù)據(jù)采集和分析同時進行

數(shù)據(jù)的采集和以前采集的數(shù)據(jù)的分析可以同時進行. 能節(jié)約測量時間.

三維粗糙的形狀記錄

能改變鳥瞰圖的視角、高低并進行記錄.對于平面圖能得到濃淡圖和等高線圖， 當然， 可以取出感興趣的部分放大或記錄.

三維粗糙度參數(shù)

能進行面平均算術(shù)平均粗糙度SRa等各種三維粗糙度參數(shù)， ”山” ， “谷” 粒子的平均面積、平均體積等的分析.

二維粗糙度測量

參數(shù)

能對應(yīng)于ISO、JIS、DIN、ANSI、BS等國際標準和各國的新舊標準進行測量

自動測量功能

從探測器的測量到數(shù)據(jù)圖表的打印一連串的動作都能自動進行.

去除處理

可以避開測量形狀中傷痕等不適和的部分，指定計算的區(qū)域進行分析.

輪廓形狀測量

多斷面形狀分析

能對多到32個斷面的數(shù)據(jù)同時處理. 而且， 能對n次分開測量的數(shù)據(jù)合在一起進行分析.

對中調(diào)整

備有必要的充分對中的功能， 而且能進行極細微的調(diào)整.

宏觀功能

利用很強的宏觀功能，可以使同一類測量物體的測量、分析和打印變得很簡單. 操作的宏觀化是除了通常的操作外只要增加單鍵操作就可以了，使整個測量簡單化.

公差判定

對于半徑、距離、角度等的分析數(shù)據(jù)， 每次都要設(shè)定公差，并能進行對錯的判斷.

二維粗糙度、輪廓形狀測量的共同特點

數(shù)據(jù)圖表

能自由的對數(shù)據(jù)圖表進行畫面設(shè)計， 可以自由選擇畫面設(shè)計的數(shù)據(jù)， 其中， 有各種測量的數(shù)據(jù)， 名稱等原始數(shù)據(jù)， 公司標記等圖形數(shù)據(jù)， 進行畫面設(shè)計， 作成圖表.