SYNAPT XS高分辨率質(zhì)譜儀

沒有研究，就制定的決策，容易是盲目的

創(chuàng)新技術提供**異的分析性能

憑借沃特世高級質(zhì)譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石，內(nèi)置先進的創(chuàng)新技術，確保使用該平臺的科學家處于質(zhì)譜分析的*前沿，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。

StepWave XS

重新設計的分段四極桿傳輸光學元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩(wěn)定性。

Extended ToF

針對*復雜的樣品，提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動態(tài)范圍和定量分析結果，同時提供**的性能指標。

更大的分析選擇自由度

SONAR和HDMS^E提供了一套獨特的工具包，用于解析復雜混合物

完整的分析策略需要結合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補機制，以****的方式解析復雜混合物。兩種類型的采集均提高了分析峰容量，提供“清晰明了”的碎片數(shù)據(jù)，但它們基于不同的分子特性。這提供了一種真正獨有的研究工具包，適用于深入解析復雜混合物。

離子淌度和CCS測量

傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù)，對分子進行分離。 除離子淌度能提供額外的分離維度、增加峰容量和分析選擇性以外，CCS測量還可提供額外的分子標識。離子CCS的測量結果有助于確定離子名稱或研究其結構。運用離子淌度技術，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。

CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質(zhì)量測定準確，能夠拓展MS/MS檢測能力。 高解析度四極桿包括4 KDa、8 KDa或32 KDa質(zhì)量數(shù)范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS分析

TAP碎裂

時間校準平行(TAP)碎裂是T-Wave IMS設計所獨有的采集模式。它使用戶能夠利用TriWave配置，允許將IMS前T-Wave和IMS后T-Wave作為兩個單獨的碰撞室運行。得到的CID-IMS-CID儀器操作有助于對組分進行超高可信度的結構表征。TAP碎裂與傳統(tǒng)MSⁿ或MS/MS技術相比，具備**的碎片離子覆蓋率、靈敏度和準確性，在構建完整結構方面有著不容置疑的優(yōu)勢。