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TI-Premier型納米壓痕儀是Hysitron公司研制的自動化、高通量測試儀器，可以用來表征多項納米力學(xué)材料性能參數(shù)。高性能的樣品加載系統(tǒng)和傳感技術(shù)賦予儀器超高的穩(wěn)定性， 在薄膜、陶瓷、復(fù)合物、聚合物、微機電系統(tǒng)、生物和金屬等領(lǐng)域均有廣泛應(yīng)用，并且支持多種樣品類型和多種樣品尺寸?！?/span>
除了納米壓痕和微米壓痕，Hysitron儀器功能還包括摩擦、磨損、模量成像、動態(tài)力學(xué)分析、聲發(fā)射監(jiān)測、接觸電阻測量。我們的儀器專為解決您的納米力學(xué)性能需求而設(shè)計，并且我們的專家團隊將回答并幫助解決您的問題。
產(chǎn)品亮點：
針對從傳統(tǒng)材料到薄膜材料的納米力學(xué)及納米摩擦學(xué)定量化表征；
先進納米力學(xué)測試的必備工具，使用Hysitron**的三板電容傳感技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)對硬度和殘余模量進行精確表征；
納米磨損技術(shù)實現(xiàn)了材料摩擦學(xué)特性的定量化表征；
原位SPM技術(shù)通過在實驗前后獲取并對比測試區(qū)域表面的納米尺度形貌像，實現(xiàn)高精度表征的目的；
多功能兼容化的系統(tǒng)配置能夠輕易實現(xiàn)各種特殊的研究目的；
標準技術(shù)參數(shù)：
納米壓痕： **載荷：≥10 mN **位移：≥5 μm
納米劃痕： **橫向載荷力：≥2 mN
納米磨損： 磨損面積范圍：1 μm ×1 μm－60 μm×60 μm
原位SPM成像： *小掃描成像載荷：70 nN
暫無數(shù)據(jù)！
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