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SR-1901PT/2501PT是脈沖日光模擬器的理想分類(lèi)設(shè)備。光伏組件和太陽(yáng)能面板的制造商會(huì)使用日光模擬器來(lái)測(cè)試其產(chǎn)品所標(biāo)示的功率和效能。使用SR-1901PT/2501PT便攜式光譜儀測(cè)量,比較日光模擬器光譜與太陽(yáng)光譜,以及日光模擬器光源的均勻性和時(shí)間穩(wěn)定性,比較其差異是否在容許范圍內(nèi),進(jìn)而對(duì)日光模擬器進(jìn)行相應(yīng)的A,B,C分類(lèi)。
SR-1901PT/2501PT可用于將長(zhǎng)或短脈沖日光模擬器進(jìn)行分類(lèi),確定其是否符合AM0或AM1.5標(biāo)準(zhǔn),也可用于均勻性和穩(wěn)定性測(cè)量。與其他日光模擬器分類(lèi)設(shè)備不同,SR- 1901PT/2501PT在積分時(shí)間為1毫秒的一次閃耀中可以獲得280-1900nm/280-2500nm的全光譜信息, 這樣就可以將長(zhǎng)和短脈沖模擬的光譜比較時(shí)間大量減少——從小時(shí)減小到秒。
特點(diǎn):
l512單元紫外加強(qiáng)型硅二極管陣列檢測(cè)器
l256 單元TE制冷增強(qiáng)型InGaAs檢測(cè)器
l可調(diào)整積分和掃描平均時(shí)間
l內(nèi)置觸發(fā)器,SMA-905端口
l0-100 毫秒的觸發(fā)延遲時(shí)間
l輸入端口的外部TTL觸發(fā) ,觸發(fā)偏差不超過(guò)5毫秒
lPhotodetector jitter偏差不超過(guò)100納秒
l光譜與AM0和 AM1.5標(biāo)準(zhǔn)匹配
l易于安裝使用的DARWin SP數(shù)據(jù)獲取軟件. DARWin SP數(shù)據(jù)獲取軟件可采用下拉菜單收到光譜匹配報(bào)告.
DARWin SP軟件特點(diǎn):
一鍵控制,自動(dòng)獲取積分時(shí)間、自動(dòng)選取波段范圍、自動(dòng)將數(shù)據(jù)保存為ASCII格式,可直接輸入第三方軟件進(jìn)行分析。
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | SR-1901PT | SR-2501PT | |
波長(zhǎng)范圍 | 280–1900nm | 280-2500nm | |
光譜分辨率 | 4nm (280-1000nm) 10nm (1000-1900nm) | 4nm (280-1000nm) 22nm (1000-2500nm) | |
采樣帶寬 | 每隔1nm輸出一個(gè)數(shù)據(jù),共1621個(gè)通道 | 每隔1nm輸出一個(gè)數(shù)據(jù),共2221個(gè)通道 | |
探測(cè)器 | 一個(gè)512單元紫外加強(qiáng)硅陣列檢測(cè)器,一個(gè)256單元的增強(qiáng)型TE制冷InGaAs檢測(cè)器 | 一個(gè)512單元紫外加強(qiáng)硅陣列檢測(cè)器,兩個(gè)256單元的增強(qiáng)型TE制冷InGaAs檢測(cè)器 | |
標(biāo)定 | NIST可溯源 | ||
等效輻射噪聲 | 0.8x10-9 W/cm2/nm/sr @400nm 1.2x10-9 W/cm2/nm/sr @1500nm | 0.8x10-9 W/cm2/nm/sr @400nm 1.5x10-9 W/cm2/nm/sr @1500nm 1.8x10-9 W/cm2/nm/sr @2100nm | |
軟件 | DARWin SP數(shù)據(jù)獲取軟件 | ||
尺寸 | 22×28×9cm | ||
重量 | 3.4Kg | ||
A/D轉(zhuǎn)換 | 16bit | ||
積分時(shí)間 | 1-50 毫秒(可通過(guò)軟件選擇) | ||
通訊端口 | USB , 藍(lán)牙 | ||
觸發(fā)選項(xiàng) | 外部TTL端口, 光觸發(fā)SMA-905端口 | ||
觸發(fā)延遲增量 | 0-100毫秒 | ||
觸發(fā)偏差 | External TTL:≤5um,Photodetector jitter:≤100ns | ||
光譜匹配 | AM0, AM1.5 | ||
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.1nm | ||
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 0.5nm |
DARWin SP數(shù)據(jù)獲取軟件的下拉菜單提供光譜比較報(bào)告, 該例表明日光模擬器符合A類(lèi)標(biāo)準(zhǔn).
本例中日光模擬器在測(cè)試中未能達(dá)到類(lèi)別C要求,在未經(jīng)測(cè)試使用低成本的日光模擬器時(shí),這是一種常見(jiàn)現(xiàn)象,會(huì)影響****和利潤(rùn)。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!