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布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5Å。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)**地位。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。
利用獨特的直接掃描平臺，DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時間，來提高掃描效率。這一改進，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復性的前提下，可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有***直觀的用戶界面，簡化了實驗操作設置，可以自動完成多掃描模式，使很多枯燥繁復的實驗操作變得更快速簡潔。
與DektakXT的創(chuàng)新性設計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上*實用簡潔的用戶界面，具備智能結(jié)構(gòu)，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。
DektakXT 技術(shù)參數(shù)
—單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
暫無數(shù)據(jù)！
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