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高性能多通道全自動比表面與孔隙度分析儀

多用途/多通道/占地面積小

TriStar II Plus是全自動化且含三個分析站的比表面積和孔隙度分析儀，具有出色的性能和分析速度。TriStar II Plus為用戶提供高通量和高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。獨(dú)特的耐腐蝕的不銹鋼歧管，可確保結(jié)果可靠且可重復(fù)。

先進(jìn)的硬件和軟件特點(diǎn)

l獨(dú)特的耐腐蝕的不銹鋼歧管，設(shè)計用于高精度的氣體管理

l改進(jìn)的杜瓦瓶設(shè)計，提供超出40h的連續(xù)溫度控制

l直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù)，更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)

l用戶自定義報告選項(xiàng)允許直接建模

l強(qiáng)大的Python腳本語言，允許用戶開發(fā)TriStar II Plus軟件標(biāo)準(zhǔn)報告庫擴(kuò)展程序

l創(chuàng)新的儀器顯示屏，方便的儀器性能指標(biāo)和維護(hù)信息實(shí)時顯示功能

l能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑

數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢

l直接處理吸附數(shù)據(jù)。通過簡單的移動計算條，用戶立即更新文本屬性。一鍵式訪問重要的參數(shù)，讓用戶專注于結(jié)果，而不是參數(shù)

l交互式數(shù)據(jù)處理很大限度地減少使用對話框和達(dá)到指定計算參數(shù)的路徑。這使用戶準(zhǔn)確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度

l更強(qiáng)的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能（多達(dá)25個）

l用戶可選數(shù)據(jù)范圍，通過圖形化界面允許直接建BET、 t-plot，Langmuir、 DFT理論等模型

l報告選項(xiàng)編輯，允許用戶自定義多達(dá)五份報告，可在屏幕上預(yù)覽

l每個報表都有總結(jié)、表格和圖形信息項(xiàng)

低比表面積測量選項(xiàng)

• 氪氣選件可以將比表面積測量范圍擴(kuò)展至0.001m²/g

用于TriStar II Plus的MicroActive軟件

TriStar II Plus直觀的MicroActive軟件使用戶能夠以交互方式評估等溫線數(shù)據(jù)，并減少取得表面積和孔隙度結(jié)果所需的時間。不需要生成報告查看結(jié)果?？梢院苋菀椎漠a(chǎn)生并調(diào)整BET比表面積變換圖等計算結(jié)果。可方便快速的通過計算條選擇數(shù)據(jù)點(diǎn)。

計算所得到的數(shù)據(jù)總結(jié)可以很快的及時更新，并可在計算窗口內(nèi)進(jìn)一步細(xì)化使用的數(shù)據(jù)范圍。

氣體吸附與汞侵入疊加能力

TriStar II Plus軟件的MicroActive還包括一種強(qiáng)大的實(shí)用工具，它允許用戶將水銀孔徑分布與根據(jù)氣體吸附等溫線計算出的孔徑分布疊加起來。這種新的導(dǎo)入功能允許用戶在一個易于使用的應(yīng)用程序中快速查看微孔、中孔和大孔分布。

包括Python編程語言

TriStar II Plus的軟件內(nèi)含Python編程語言。這種強(qiáng)大的腳本語言允許用戶在儀器的應(yīng)用中擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)報告庫。

表格和圖表報告：

• 單點(diǎn)或多點(diǎn)BET 比表面積

• 總孔體積

• Langmuir 比表面和等溫線

• t-Plot

• Harkins和Jura厚度層公式

• Halsey厚度層公式

• 碳黑STSA

• Broekhoff-de Boer

• Kruk-Jaroniec-Sayari

• BJH 吸附/脫附曲線

• 標(biāo)準(zhǔn)

• Kruk-Jaroniec-Sayari校正

• Dollimore-Heal吸附/脫附曲線

• 中孔

• 孔體積和面積分布

• MP-方法

• HK

• Saito-Foley

• Chang-Yang

• DFT孔徑

• DFT表面能

• 總結(jié)報告

• SPC報告

• 確認(rèn)報告

雙DFT理論

雙NLDFT模型允許用戶同時應(yīng)用氮吸附和二氧化碳吸附等溫線得到材料的全范圍孔徑分布。相對于標(biāo)準(zhǔn)的氮吸附分析，這種方法可以將孔徑分析擴(kuò)展到更小的孔徑。這是因?yàn)镃O2可在低溫下進(jìn)入很小的微孔，而N2由于尺寸限制、鏈接問題以及擴(kuò)散緩慢等原因進(jìn)入不了這些微孔。

麥克儀器公司樣品制備系統(tǒng)可為比表面和孔隙度分析制備樣品。它使用流動加熱或者真空加熱達(dá)到去除樣品表面例如水和其他吸附氣體的目的。

FlowPrep™060通過加熱和流動氣體處理樣品。加熱使污染物從樣品表面脫附，惰性氣體將污染物從樣品管帶走。用戶可選擇適用于其樣品材料與應(yīng)用的理想溫度、氣體和流動速度。針閥設(shè)計使氣體流動緩慢，防置樣品被吹走。

Vacprep™061提供了兩種去除吸附污染物的方法。除流動氣體外，該樣品準(zhǔn)備單元提供真空，通過加熱和疏散來準(zhǔn)備樣品。

智能的VacPrep™067是一種先進(jìn)的六站系統(tǒng)利用加熱抽真空法來制備樣品。每個站可以獨(dú)立操作，而不會影響其他正在處理的樣品。當(dāng)樣品完成所有脫氣步驟后，脫氣將自動終止。

Chiller Dewar

液體循環(huán)裝置

Chiller Dewar為高表面積銅線圈構(gòu)成的封閉循環(huán)裝置，保證了杜瓦瓶與循環(huán)液體之間的高效熱交換。溫度則通過外配的循環(huán)浴來控制。

ISO Controller

低溫?zé)犭娭评涠磐?/span>

麥克儀器公司的ISO Controller采用帕爾貼原理的熱電制冷技術(shù)。該裝置可控制0°C到80°C間的溫度，用于CO2、N2和其他氣體吸附分析。該裝置能夠以*小的電流需求量快速制冷且有效地維持溫度。