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儀器簡(jiǎn)介：

DIL806光學(xué)熱膨脹儀是一種創(chuàng)新的[1]和通用的測(cè)量熱膨脹和收縮的儀器。測(cè)量樣品的長(zhǎng)度時(shí)完全沒有接觸，因此非常適合于薄的，形狀不規(guī)則的和軟的樣品。

[1]美國(guó)**＃7524105

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)：

DIL806光學(xué)熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測(cè)量原理，使非傳統(tǒng)的熱膨脹實(shí)驗(yàn)成為可能，并改善了許多傳統(tǒng)的測(cè)試

測(cè)量原理

DIL 806采用了陰影光的方法。在該方法中，通過測(cè)量CCD探測(cè)器上樣品的

陰影來測(cè)量一個(gè)方向上樣品的**尺寸的大小。 高強(qiáng)度的GaN LED發(fā)出平

面光，通過一個(gè)擴(kuò)散單元和準(zhǔn)直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該

光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精細(xì)處理，

并由高分辨率的CCD探測(cè)器記錄。數(shù)字邊緣檢測(cè)自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)

而測(cè)定樣品的尺寸。

**測(cè)量的優(yōu)勢(shì)

DIL806測(cè)量本質(zhì)上是一個(gè)**的測(cè)量，不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的

影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測(cè)器與這些變化相隔離。因此，

測(cè)量是**的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見的特定測(cè)試的校準(zhǔn)。

爐體技術(shù)

DIL806采用了創(chuàng)新的板形爐，提供了**的溫度均勻性和響應(yīng)時(shí)間。樣品放

置于寬平面加熱元件的中心，加熱元件的尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于樣品，防止了在橫向

方向上的溫度梯度。爐蓋內(nèi)有一個(gè)類似的加熱元件，位于樣品的正上方，可

以**限度地減少垂直溫度梯度。

爐體能夠提供100℃/min的快速加熱以及10分鐘內(nèi)從1400℃至50℃的冷卻時(shí)

間?？焖俚募訜岷屠鋮s速度，保證了樣品高通量以及溫度快速變化下過程的

表征。

爐體的動(dòng)態(tài)反應(yīng)也使得DIL806特別適合儀器的控制軟件所支持的速率控制燒

結(jié)實(shí)驗(yàn)。自定義軟件包允許用戶定義一個(gè)目標(biāo)的燒結(jié)（收縮）率?？筛鶕?jù)樣

品特性，通過增加或減小加熱速率實(shí)時(shí)調(diào)整溫度，以達(dá)到目標(biāo)速率。

非接觸式測(cè)量的優(yōu)越性

非接觸式的測(cè)量系統(tǒng)提供了以下幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)闆]有直接施加負(fù)載到樣品上，因此即便是*柔軟的材料也可以獲得**的測(cè)量精度。

包括薄膜，或質(zhì)地柔軟測(cè)量或在實(shí)驗(yàn)過程中發(fā)生軟化的材料。

由于與測(cè)量系統(tǒng)無物理接觸，進(jìn)一步提高了溫度均勻性。頂桿可以作為散熱件，在與樣品接觸點(diǎn)處產(chǎn)生熱點(diǎn)或冷點(diǎn)。而DIL806是沒有

這些接觸點(diǎn)的，確保了整個(gè)樣品在整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中溫度的均勻，無需考慮實(shí)驗(yàn)中的溫度分布。

廣泛的測(cè)量面積大大簡(jiǎn)化了樣品位置。儀器的測(cè)量面積，寬30毫米，在這個(gè)范圍內(nèi)的任何位置放置樣品，儀器均能表現(xiàn)出優(yōu)異的工作

性能。這樣就簡(jiǎn)化了樣品裝載，去除樣品位置的嚴(yán)格限制。

樣品類型

DIL806提供了**的靈活性的樣品類型和制樣。沒有推桿接觸，不再需要光滑或平行的樣品表面。不規(guī)則形狀的樣品可以很輕松的測(cè)

量。薄膜樣品可以很容易的在其長(zhǎng)度或?qū)挾确较蜻M(jìn)行測(cè)量。對(duì)于不透明、半透明或透明的材料， DIL806均能獲得優(yōu)異的測(cè)量結(jié)果。也

可以測(cè)量單個(gè)樣品在幾個(gè)方向上尺寸變化， 可以表征復(fù)合材料或者其他有取向性材料的各向異性的熱膨脹。

因?yàn)镈IL806可以使用多種樣品類型和形狀，因此它是對(duì)其他的測(cè)量的**補(bǔ)充?？墒褂肈IL806對(duì)其他測(cè)量方法（比如動(dòng)態(tài)力學(xué)分析儀

（DMA）、激光法測(cè)導(dǎo)熱、表面硬度密度或其他）的同一樣品進(jìn)行測(cè)試