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高通量TE致冷控溫CCD陣列光譜儀
高通量TE致冷控溫CCD陣列光譜儀

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產地

美國

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暫無
必達泰克光電科技(上海)有限公司

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儀器簡介:

BTC162E系列光譜儀集合了高光通量與高分辨率的優(yōu)點,并擁有與同類產品相比的小尺寸。其很高的光度測量靈敏度使其非常適合于微光檢測,尤其是拉曼或熒光檢測方面的需要。該產品的光通量可達常見的采用Crossed Czerny-Turner光路的光譜儀的4-5倍,并具有出色的像質,是組建價廉物美的高性能光譜檢測系統(tǒng)的選擇。

技術參數:

1. 操作溫度: 15℃到35℃

2. 檢測器 : TE致冷控溫2048元CCD陣列

3. 光譜范圍: 操作溫度: 0℃到40℃

4. 檢測器 : TE致冷控溫2048元CCD陣列

5. 光譜范圍: 750-1050nm,530-680nm(應用于785\532nm拉曼檢測),或客戶定制

6. 冷卻溫度: 10℃(出廠設置)

7. NA:0.18/0.22(高分辨率時采用0.18,高光通量時采用0.22)

8. 光柵 : 1000線/mm ,折疊雙通投射光路,高靈敏度

9. 狹縫 : 25/50um或客戶定制(狹縫高:1000μm)

10. 光學分辨率: 0.4nm(拉曼位移6.5cm-1)或客戶定制

11. 雜散光 :0.07%@800nm

12. A/D數位儀: 16位

13. 短積分時間: 5ms(BTC162E)/9ms(BTC161E)

14. 數據傳輸速率: 每秒50到大于100張譜

15. 重量 : 1.2磅

17. 尺寸 : 191(寬)×94(長)×90(高)mm

主要特點:

1. 獨特的折疊式雙通道光路設計

2. 高光通量,比一般的同類產品高4-5倍光通量

3. 專為拉曼光譜檢測優(yōu)化設計,在785nm激光激發(fā)的條件下,分辨率可達6cm-1,光譜覆蓋范圍可達175-3100cm-1,遠優(yōu)于一般的crossed Czerny-Turner式光譜儀

4. 緊湊設計,尺寸僅為:191(寬)×94(長)×90(高)mm

應用:

1. 拉曼及熒光檢測

2. 2D圖像光譜

3. 在線光譜檢測及監(jiān)測

4. OEM模塊

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產品質量

10分

售后服務

10分

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10分
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