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專為對貴重物品和靜止物體進行現(xiàn)場分析而設計

ARTAX是個商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設計用于滿足對貴重的物品如考古和藝術品進行現(xiàn)場成分分析的需求。

· 對材料的結構和組成進行非破壞性的微區(qū)多元素分析，分析元素范圍11Na-92U，空間分辨率達到70微米。

· 適用于用于現(xiàn)場對各種尺寸、形狀的樣品進行無損檢測。

· 模塊化的設計允許許多應用，文物保護、考古、刑偵以及商檢等領域。

· 第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術， 不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于165eV at MnKa 100Kcps。優(yōu)于145eV分辨率探測器可選。

· 靈活的設計，樣品檢驗時可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z 三維自動定位跟蹤樣品臺，防碰撞保護，可以自動完成點、線、面掃描功能。

· 配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機、微聚焦多孔毛細管鏡、XYZ樣品臺、激光定位系統(tǒng)。

· 微聚焦多孔毛細管鏡與準直管相比強度提高1000倍以上。

· 根據(jù)應用要求不同，可提供多種配置。

ARTAX系統(tǒng)的核心部件是它的緊湊式的探測頭：

含有特殊設計的、fei常緊湊的，具有微聚焦X射線管；

毛細管聚焦光學系統(tǒng)產(chǎn)生一個高光強微區(qū)；

一個緊湊的，高分辨率，無氮且高速/低噪的XFlash® SD探測器；

先進的觀測、分析、采樣點定位系統(tǒng)。

快捷的X射線光管更換

測量頭由一個含有探測器單元、CCD相機和指示激光組成。位于旁邊的激發(fā)單元，由光管外殼、X射線光管、X射線光學系統(tǒng)組成，通過鎖緊固定，便于快速更換。這樣的設計，令用戶可以選擇合適的激發(fā)源或者靶材，也可以快速跟換X射線光學系統(tǒng)。

基于三腳架的便攜性

測量頭、電動馬達驅動X-Y-Z三向定位平臺和控制模塊都被安置于一具可移動的、減震三腳架上。這樣的設計使整個測量系統(tǒng)在工作時可以根據(jù)被測物的具體形狀和位置自由定位，同時駁斥重復性優(yōu)于±10 μm。

輕質元素分析

ARTAX 具有氦氣保護系統(tǒng)，用于輕質元素的測量分析。使用氦氣保護，測量的范圍可以從在空氣中的Ti(22) 至 U(92) ，下降到 Na(11)。使用氦氣保護的額外的好處是，使得原本在真空中可能的樣品，避免受到傷害。輕質元素檢測性能，使得那些原本重要，卻不被重視的 元素得以被檢測到，如P(15)， S(16) 和Cl(17) 以及 Al(13) 和 Si(14)等。

其它特性：

由于更加緊湊的測量頭設計的樣品測量距離，令樣品可接近性大大改shan；

接觸傳感器可避免藝術品的損壞

輻射防護：增加了一個基本功能，可以直接訪問的終止控制開關；

如額外的警告燈，門聯(lián)鎖觸點，等；

輕質元素測量時，軟件可以實現(xiàn)氦氣流量控制；定位激光也可以實現(xiàn)軟件控制。

功能強大的ARTAX軟件--SPECTRA：

XRF軟件用于控制硬件功能，實現(xiàn)光譜采集和存儲；

元素識別，峰解譜功能，用于計算光譜---背景歸一以及峰凈面積計算；

強大的定性分析、定量計算功能；

報告和數(shù)據(jù)輸出功能

同時顯示100條光譜；

可以創(chuàng)建400萬條光譜的數(shù)據(jù)庫；

基于DCCR算法，進行定量計算（DCCR: Direct Comparison of Counting Rates）

匹配篩選功能，可以在庫軟件中篩選出相似譜線.文物保護、文物修復、考古、藝術品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領域。