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我們的布魯斯特角樣品架允許使用透射光譜法在不同角度測量薄膜。這些測量用于從產(chǎn)生的干涉條紋中提取薄膜厚度和折射率數(shù)據(jù)。
布儒斯特角樣品架還消除了通常遮蔽弱吸收帶的干涉條紋。當(dāng)與偏振器一起使用且位于布魯斯特角時，p-偏振光通過反射*小的表面?zhèn)鬏敗?/p>
特征
以布魯斯特角或FT-IR或UV-VIS光譜儀所需的任何其他角度安裝薄膜。
精確設(shè)置和讀取入射角的刻度盤。
可選安裝在紫外可見光譜儀上。
與Harrick Scientific的高效線柵偏振器和Glan Taylor偏振器兼容。
包括
布魯斯特角樣品架。
一個樣品支架。
滑板安裝。
暫無數(shù)據(jù)！
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