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Werth平面零件光學掃描儀FlatScope
Werth平面零件光學掃描儀FlatScope

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產地

德國

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似空科學儀器(上海)有限公司

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作為測量儀器,該掃描儀是當今世界上測量二維工件*精確的二維掃描儀(**申請中).

主要特點:

高速的矩陣式掃描系統,適用于生產現場的二維測量

工業(yè)圖像處理系統,掃描規(guī)則的幾何元素及自由輪廓

被測工件可任意位置放置

模塊化的測量軟件

利用投射光和透射光進行工件掃描

快捷方便的WinWerth評估軟件

WinWerth軟件CAD在線和**公差擬合測量

平面光源

精度采用高標準雙邊標定

技術參數:

測量范圍(玻璃工作臺?尺寸):

X = 400/650mm

Y = 200/400/600mm

**工件高度:Z = 100mm

光柵尺分辨率:0.1μm

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產品質量

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售后服務

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