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QATM用Qness EVO型號(hào)重新定義了通用硬度(布氏/努氏/洛氏/維氏)測(cè)試: 極短的測(cè)試周期時(shí)間和高精度是產(chǎn)品研發(fā)的主要關(guān)注點(diǎn)。

型號(hào)介紹：

C/CS型："C" 型機(jī)架的特征給出了Qness 250/750/3000 EVO系列C和CS版本的名稱來(lái)源。 在硬度測(cè)試領(lǐng)域，幾十年來(lái)測(cè)試頭固定并上/下移動(dòng)絲杠是經(jīng)過驗(yàn)證的理念，是小測(cè)試件的理想選擇 -"C" 型工件測(cè)試高度可達(dá)395 mm，即使是緊湊的型號(hào)"CS" ，測(cè)試高度也達(dá)175 mm。

M型“M”版本固定工件支撐和超大測(cè)試臺(tái)區(qū)域使得甚至對(duì)超大的工件也可以進(jìn)行硬度測(cè)試。測(cè)試頭通過旋轉(zhuǎn)位于機(jī)器前部的手輪來(lái)進(jìn)行手動(dòng)移動(dòng)。測(cè)試頭的軸承部分是為順暢運(yùn)轉(zhuǎn)而特別設(shè)計(jì)的，用*小的力就可以進(jìn)行操作。測(cè)試高度可達(dá)510 mm。

主要特點(diǎn)

< 全自動(dòng) / 電子加載力控制;

< XLED照明模塊徹底革新了布氏壓痕的分析；

< 通用可回轉(zhuǎn)兩位塔臺(tái)/可選8位自動(dòng)轉(zhuǎn)塔臺(tái)；

< 可通過手動(dòng)進(jìn)行重新測(cè)量；

< 以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸功能的高品質(zhì)CMOS 500萬(wàn)像素?cái)z像頭定義了當(dāng)前的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

< 可自由調(diào)節(jié)的12英寸電容觸屏顯示器

< 奧地利原廠設(shè)計(jì)制造

測(cè)量方法

維氏、布氏、洛氏及塑料檢測(cè)法

載荷范圍

Q250： 1-250kg（9.8-2450N）

Q750：0.3-750kg（2.94-7358N）

Q3000：0.3-3000kg（2.94-29430N）

高度調(diào)整

手動(dòng)搖桿控制/絲杠/自動(dòng)電機(jī)控制

測(cè)試高度/喉深

175-510mm/220-320mm(取決于具體型號(hào)）

允許工件重量

無(wú)限制