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X-射線(xiàn)熒光鍍層厚度測(cè)試儀
X-射線(xiàn)熒光鍍層厚度測(cè)試儀

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德國(guó)

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南通菲希爾測(cè)試儀器有限公司

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第2年

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儀器簡(jiǎn)介:

適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線(xiàn)幫助功能

頻譜庫(kù)中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用

能通過(guò)“應(yīng)用工具箱”(由一個(gè)帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤(pán)和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成)使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡(jiǎn)單化

畫(huà)中畫(huà)測(cè)試件查看和數(shù)據(jù)顯示,帶快速移動(dòng)焦距功能放大試件圖像;計(jì)算機(jī)生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星,并有X-射線(xiàn)光束大小指示器(光束的大小取決于測(cè)量的距離)

圖形化的用戶(hù)界面,測(cè)試件的圖像顯示可插入于測(cè)試報(bào)告中

測(cè)量模式用于:

單、雙及三層鍍層系統(tǒng)

雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測(cè)量

雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測(cè)量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測(cè)量)

能分析多達(dá)四種金屬成分的合金和電鍍液中金屬離子含量;

可編程的應(yīng)用項(xiàng)圖標(biāo),用于快速應(yīng)用項(xiàng)選擇

完整的統(tǒng)計(jì)功能,SPC圖,標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評(píng)估

報(bào)告生成,數(shù)據(jù)輸出

語(yǔ)言可選擇:英語(yǔ),德語(yǔ),法語(yǔ),意大利語(yǔ),西班牙語(yǔ),及中文

菜單中的某些選擇項(xiàng)可授權(quán)使用

技術(shù)參數(shù):

1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射線(xiàn)熒光測(cè)試方法;

2.原始射線(xiàn)從下至上;

3.微聚焦X-射線(xiàn)管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至**的應(yīng)用:50kV,40kV或30kV;

4.視準(zhǔn)器組:圓直徑為0.1/0.2;正方形0.05X0..05mm;長(zhǎng)方形0.03X0.2mm

5.測(cè)量箱外部尺寸:(高×寬×深)480 mm×375 mm×580 mm,重量大約為45kg;

6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸:(高×寬×深)240 mm×360 mm×460mm)帶向上回轉(zhuǎn)箱門(mén);

7.手動(dòng)X-Y工作臺(tái)(平面板:360 mm寬×240 mm深),帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運(yùn)行,

8.試件查看用標(biāo)準(zhǔn)的彩色攝像機(jī);

9.測(cè)量開(kāi)始/結(jié)束按鈕,及LED狀態(tài)指示燈與測(cè)試箱集成在一體。

主要特點(diǎn):

FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計(jì)為X-射線(xiàn)管和探測(cè)器系統(tǒng)位于測(cè)量臺(tái)下部。因此測(cè)量方向從下往上。這也就提供了一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn),尤其對(duì)于測(cè)量各種不同幾何外形的小工件,或各種各樣的線(xiàn)路板、引線(xiàn)框架以及電連接器的微小部位測(cè)量

。在絕大多數(shù)情況下,被測(cè)試工件的表面可直接放置于測(cè)量臺(tái)上,這就避免了在從上往下測(cè)量系統(tǒng)中需要的測(cè)量距離調(diào)整。測(cè)試點(diǎn)會(huì)自動(dòng)地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測(cè)量的過(guò)程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測(cè)量誤差。- FISCHE是**一家實(shí)現(xiàn)了這種設(shè)計(jì)的X-射線(xiàn)熒光鍍層厚度測(cè)試儀器的制造廠(chǎng)商。

與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合,XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分,可以**地適應(yīng)于快速,非破壞性和精確的測(cè)量珠寶及貴金屬中金的成分。

XULM使用了高能量的X射線(xiàn)管,即便是測(cè)量微小面積時(shí)也能有很強(qiáng)的X射線(xiàn)照射到被測(cè)樣品上,以保證測(cè)量的精確度。

創(chuàng)新點(diǎn)

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10分

易用性

10分

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