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暫無(wú)看了蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用的用戶又看了
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將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。
利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。使用工作流程的一步,將結(jié)果可視化。
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。
Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率,通過(guò)二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。
利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
利用 BSD 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。
如果單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于:
優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)的透過(guò)率,可以探測(cè)輕元素的低能X射線。
工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。
完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。
在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過(guò)擴(kuò)展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品的化學(xué)指紋信息,從而指認(rèn)其成分。
識(shí)別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息
可進(jìn)行3D分析,在需要時(shí)可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。
完全集成RISE讓您體驗(yàn)由先進(jìn)的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!