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布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達芬奇設(shè)計，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過的TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。
技術(shù)指標：
Theta/theta 立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
應(yīng)用
物相定性分析
結(jié)晶度及非晶相含量分析
結(jié)構(gòu)精修及解析
物相定量分析
點陣參數(shù)精確測量
無標樣定量分析
微觀應(yīng)變分析
晶粒尺寸分析
原位分析
殘余應(yīng)力
低角度介孔材料測量
織構(gòu)及ODF分析
薄膜掠入射
薄膜反射率測量
小角散射
暫無數(shù)據(jù)！
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