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高精度光學(xué)坐標測量儀μCMM是奧地利Alicona公司研發(fā)生產(chǎn)的集樣品尺寸特性，位置，形狀和粗糙度測量功能于一體的全程高精度測量系統(tǒng)。
高精度光學(xué)坐標測量儀μCMM的突出特點：
. 極高精度測量公差非常小的部件
. μCMM是同類產(chǎn)品中*精確的純光學(xué)微坐標測量系統(tǒng)。
. 用戶將觸覺坐標測量技術(shù)和光學(xué)表面測量技術(shù)的優(yōu)勢結(jié)合起來，只用一個傳感器測量零件的尺寸、位置、形狀和粗糙度。
. μCMM提供了更高幾何精度的光學(xué)三維測量，能夠測量大部件上的小表面細節(jié)，并精確確定這些單獨測量的相對位置。
. 可測量表面的光譜包括所有常見的工業(yè)材料和復(fù)合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、鉻、硅。
. 材料從啞光到拋光各種反光成分都可以測量。
. 操作簡單是通過單按鈕解決方案，有一個集自動化和人體工程學(xué)控制元素特別設(shè)計的控制器。
. 帶線性驅(qū)動的空氣軸承軸可實現(xiàn)無磨損使用和高精度、以及更快速測量。這也使得μCMM非常適合在生產(chǎn)中長期使用。
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