工商已核實
·波長測量范圍：1265~1335 nm
·10um空間分辨率
·100m長度測量范圍（可升級）
·無需校準，穩(wěn)定性好
·模塊化，方便集成維護
·支持軟硬件定制，功能升級
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OCI1300是一款超高精度的光纖斷點檢測、損耗測量儀器。其原理基于光頻域反射技術與光外差檢測技術相結合，實現100m測量范圍內的空間分辨率可達10um。本產品可在待測光纖鏈路中輕松查找判別宏彎、接頭、暗紋、連接點和斷點，精準測量插損、回損。非常適合硅光芯片、光纖微結構的定量測試和品質監(jiān)測，以及光纖長度測量，其中測量精度可達0.1mm，并可擴展分布式溫度應變測量。
產品特點
·波長測量范圍：1265~1335 nm
·10um空間分辨率
·100m長度測量范圍（可升級）
·無需校準，穩(wěn)定性好
·模塊化，方便集成維護
·支持軟硬件定制，功能升級
主要應用
光通信測量：
·光器件、光模塊測量
·硅光芯片測量
·光纖長度、暗紋測量
光纖傳感測量
·光纖干涉儀延時測量
·光纖光柵
·光纖微結構
參數
| 類別 | 指標 | 單位 | ||
| 基礎 | 測量范圍1 | 50 | 100 | m |
| 空間分辨率 | 10 | μm | ||
| 回損測量范圍 | -125~0 | dB | ||
| 靈敏度 | -130 | dB | ||
| 回損動態(tài)范圍 | 80 | dB | ||
| 插損動態(tài)范圍 | 18 | dB | ||
| 插損回損分辨率 | 0.05 | dB | ||
| 插損回損精度 | ±0.1 | dB | ||
| 盲區(qū) | 無 | - | ||
| 測量時間2 | <8 | <12 | s | |
| 光譜 | 波段3 | 1265~1340 | nm | |
| 波長分辨率 | 0.03 | pm | ||
| 波長重復精度 | ±1.0 | pm | ||
| 群延時 | 精度 | 1.0 | ps | |
| 干涉儀延時測量4 | 測量長度 | 50 | 100 | m |
| 重復精度5 | 0.1 | mm | ||
| 硬件 | 輸出光功率 | <5 | mW | |
| 輸入電壓 | AC 220/110V; DC 12V | - | ||
| 主機功率 | 60 | W | ||
| 通訊接口 | USB | - | ||
| 光纖接口 | FC/APC | - | ||
| 尺寸 | 390 x 350 x 158 | mm | ||
| 重量 | 7.5 | KG | ||
長度可升級定制 ；
不同模式的測量時間不同；
可定制其他波段；
實際測量值為延時，輸入折射率可得到臂差值；
高精度模式；
暫無數據！
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