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產(chǎn)品概述
ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導(dǎo)體制冷技術(shù)，CCD可工作在設(shè)定的恒溫環(huán)境（*低可達-15oC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了**的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。
同時，奧譜天成為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界**水平。
ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數(shù)據(jù)。
ATP5105只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。
特點：
紫外增強高性能背照式CCD
專門針對紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構(gòu)；
探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
探測器像素：3072
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit， 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口
典型應(yīng)用：
拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
紫外、可見和短波近紅外
波長檢測
探測器 | |
類型 | 線陣背照式CCD (制冷到 -15oC) |
探測光譜范圍 | 165-1100 nm |
有效像素 | 3072 |
像元尺寸 | 600μm×8μm |
全量程范圍 | ~200 ke- |
靈敏度 | 6.5 uV/e- |
暗噪聲 | 6 e- |
光學(xué)參數(shù) | |
波長范圍 | 165-1100 nm |
光學(xué)分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
性噪比 | >1300:1 |
動態(tài)范圍 | 5000：1 |
工作溫度 | -10-40 oC |
工作濕度 | < 85%RH |
光路參數(shù) | |
光學(xué)設(shè)計 | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
電氣參數(shù) | |
積分時間 | 1 ms - 130 second |
數(shù)據(jù)輸出接口 | USB 2.0 |
ADC位深 | 18 bit |
供電電源 | DC 5V±10% |
工作電流 | <2.3A |
存儲溫度 | -20°C to +70°C |
操作溫度 | -10°C to +40°C |
物理參數(shù) | |
尺寸 | 120×80×46 mm3 |
重量 | 0.5 kg |
Sealing | Anti-sweat |
暫無數(shù)據(jù)！
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