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RISE 顯微鏡® (RISE Microscopy®) 是全球**集成拉曼成像與掃描電子顯微鏡于一體的聯(lián)用系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)超精細(xì)表面形貌結(jié)構(gòu)與分子化學(xué)信息的一一對應(yīng)。整個(gè) RISE 測試流程都在 SEM 真空腔進(jìn)行,樣品完成拉曼測試后(或 SEM), 可以自動(dòng)轉(zhuǎn)移到 SEM 電子束(或拉曼)位置進(jìn)行測試, 直觀連貫的測試流程, 易操作。
參數(shù)性能:
光譜重復(fù)性:<= +/-0.02 cm-1
空間分辨率: 橫向360 nm, 縱向900 nm
*低波數(shù):100 cm-1
光譜分辨率:<=1 cm-1
光譜范圍:90-9000 cm-1
靈敏度:硅的三階峰信噪比優(yōu)于20:1
暫無數(shù)據(jù)!