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ASI J200 TANDEM復(fù)合系統(tǒng)
ASI J200 TANDEM復(fù)合系統(tǒng)

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美國

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暫無
北京恒天科力科技發(fā)展有限公司

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簡介

美國應(yīng)用光譜公司 (Applied Spectra Inc.)專注研究激光剝蝕和光譜分析技術(shù)的高技術(shù)公司。 研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的研究人員。 公司總裁Richard Russo 博士為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的資深科學(xué)家, 從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術(shù)三十多年, 創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(shù) (Laser Ablation, LA) 及激光誘導(dǎo)擊穿光譜(Laser Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS)相融合, 研發(fā)了J200系列激光剝蝕進樣系統(tǒng)及光譜分析系統(tǒng)。

J200 納秒激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)實現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時測量,并具備多種測量功能: 可測量常量, 微量和同位素 (與ICP-MS串聯(lián));分析有機元素及輕元素; 元素三維空間分布;校正ICP-MS質(zhì)譜信號。主要用于地質(zhì)礦物,土壤,植物,合金,新能源材料 (例如鋰電池材料), 刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進樣及化學(xué)成分分析。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)可與市面上的四級杠質(zhì)譜儀, 飛行時間質(zhì)譜儀和高分辨質(zhì)譜儀串聯(lián)使用。

J200 LA-LIBS復(fù)合系統(tǒng)特色

高穩(wěn)定Q開關(guān), 短脈沖Nd:YAG 激光 ,可選擇多波長 < 5 nsec at 213 nm ,創(chuàng)新的模組化設(shè),為獨立 LA, LIBS, LA - LIBS 復(fù)合的系統(tǒng)設(shè)計。因分析需求,提供三種LIBS 檢測器選擇 ,激光剝蝕均勻且一致性的LA系統(tǒng) 。

穩(wěn)定激光能量的光閘設(shè)置

高分辨雙CMOS相機系統(tǒng), 可用于寬視野觀測樣品表面特征 。應(yīng)用光譜公司的 Flex 樣品室內(nèi)置氣體模組可優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力,滿足不同測量要求,先進的微集氣管設(shè)計,可盡可能的減少排氣,防止集結(jié)剝蝕顆粒,消除記憶影響。

雙通道高精度質(zhì)量流量控制器和電子控制閥

Axiom LA 軟件系統(tǒng)

軟件可整合控制硬件組件及ICP-MS 同pu步操作,輕松實現(xiàn)繁雜的激光采樣與分析模式 ,強大的數(shù)據(jù)分析工具用于繁雜的LIBS and LA-ICP-MS 串聯(lián)光譜分析,LIBS 化學(xué)計量法軟件分辨分類分析

靈活的分析方法:全分析,夾雜物分析,斑點分析,深度分析和元素分映像

維護成本低

可擴充升級LA – LIBS 復(fù)合系統(tǒng)

可擴充升級飛秒 LA 系統(tǒng)

自動樣品高度調(diào)整功能

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)采用ASI**技術(shù):剝蝕導(dǎo)航激光和樣品高度自動調(diào)整傳感器相結(jié)合,解決了若樣品表面凹凸不平而剝蝕不均、導(dǎo)致元素含量值誤差大的問題;激光能量穩(wěn)定閥確保了到達樣品表面的激光能量均勻,使所有采樣點的激光燒蝕均勻一致;3-D全自動操作臺**行程可達100mmx100mmx36mm,XY行程分辨率0.2μm,Z行程分辨率0.1μm, 優(yōu)于其它任何同類產(chǎn)品。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)采用ASI**技術(shù)可對固、液、氣等樣品進行全元素LIBS快速檢測,同時可將固體樣品的剝蝕顆?;蛘咭后w樣品直接送入ICP-MS系統(tǒng),實現(xiàn)ppb級精確分析。彌補了ICP-MS不能測量部分輕元素的缺憾,也有效避免了ICP-MS分析中繁雜的樣品前處理過程及可能引入的二次污染。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配置有高適連接口,輕松實現(xiàn)與市面上絕大多數(shù)主流品牌ICP-MS的聯(lián)用。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配備有固體樣品室,還可根據(jù)用戶需求同時配置氣體、液體樣品室,并通過設(shè)置可自動切換的光路系統(tǒng),實現(xiàn)固、液、氣體樣品室在同一系統(tǒng)中的自動化切換,測量過程中無需人為拆卸。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配置:

主機系統(tǒng):包括激光器及控制系統(tǒng),激光傳輸光學(xué)元件,樣品臺、樣品室、氣體管路系統(tǒng)等、樣品成像系統(tǒng)等;

等離子體光譜檢測器:Czerny Turner光譜儀/ICCD相機、階梯光柵光譜儀/ICCD相機、同步4/6通道CCD光譜儀三種LIBS檢測器可選;

軟件系統(tǒng):系統(tǒng)操作軟件、數(shù)據(jù)分析軟件、TruLIBS發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫、化學(xué)統(tǒng)計軟件。

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10分

易用性

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