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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛,從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。
利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。
高亮度的場發(fā)射電子槍,輕松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。
JEM-2100F**設(shè)計的側(cè)插式側(cè)角臺,在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時都不會造成機(jī)械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實(shí)現(xiàn)一體化控制。
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價比