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Nova NanoSEM; 掃描電子顯微鏡能夠在一臺(tái)易于使用的儀器中提供一流的成像和分析性能。Nova NanoSEM 經(jīng)過(guò)特別設(shè)計(jì)，旨在簡(jiǎn)化實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的操作，使所有者能夠在*短時(shí)間內(nèi)得到*全面的結(jié)果。這無(wú)疑能提高工作效率，同時(shí)又未削弱日常工作中所需的高質(zhì)量成像功能。
使用 Nova NanoSEM 50 系列時(shí)，越來(lái)越多的不可能正在變成可能。除了由尖端光學(xué)裝置（包括雙模式末級(jí)透鏡）、SE/BSE（次級(jí)電子/反散射電子）透鏡內(nèi)檢測(cè)和電子束減速裝置構(gòu)成的強(qiáng)大系統(tǒng)外，Nova NanoSEM 50 系列還推出了全新系列的**一代高靈敏度、可回縮式 SE/BSE 和 STEM 檢測(cè)器以及多功能 SE/BSE 濾波功能，從而以**方式優(yōu)化感興趣的信息。智能掃描模式可用來(lái)**限度減少成像偽影。
在材料實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，儀器必須足夠靈活，可以在處理眾多類型樣本時(shí)提供精確的信息，而且成像和分析性能也要滿足所有者的要求。使用 Nova NanoSEM 時(shí)，您可以根據(jù)研究的樣本類型或需要開展的分析工作類型，輕松切換儀器工況。
處理眾多類型的樣本，拓寬研究領(lǐng)域
使用獨(dú)特的低真空功能和超高分辨率低電壓成像表征眾多類型的樣本；在高真空模式下，低電壓 [1 kV] 分辨率為 1.4 nm，而對(duì)于不導(dǎo)電材料，Nova NanoSEM 更具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，可在低電壓 (3 kV) 下提供**分辨率 (1.8 nm)。
既可提供高電流束（這是迅速開展 EDS/EBSD/CL/分析研究所必需的），也能在高電壓和低電壓下提供高分辨率（處理眾多類型樣本時(shí)，這是提供高質(zhì)量圖像所必需的）
在低真空模式下具有**的性能，為您提供更強(qiáng)大的分析能力 - 需要為玻璃、陶瓷或其他不導(dǎo)電材料提供高質(zhì)量分析數(shù)據(jù)時(shí)。
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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