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高萊盒太赫茲探測(cè)器（Golay Cell）是目前為止較為靈敏，且使用比較普遍?？梢杂行У奶綔y(cè)到飛秒激光泵浦的太赫茲功率。為了滿足科學(xué)研究者對(duì)測(cè)試精確度的要求，越來(lái)越多的實(shí)驗(yàn)測(cè)試認(rèn)為，有一臺(tái)校準(zhǔn)裝置在測(cè)試前對(duì)Golay Cell探測(cè)器進(jìn)行校準(zhǔn)是非常有必要的。上海屹持光電正式推出Golay Cell高萊盒太赫茲探測(cè)器校準(zhǔn)裝置。
高萊盒太赫茲探測(cè)器探測(cè)原理基于薄膜吸收光譜能量進(jìn)而振動(dòng)激發(fā)氣體的物理過(guò)程。此過(guò)程的探測(cè)效率會(huì)隨著環(huán)境情況（例如不穩(wěn)定的溫度）的變化而變化。探測(cè)效率會(huì)影響到探測(cè)器的響應(yīng)。高萊盒探測(cè)器被長(zhǎng)時(shí)間的使用之后，會(huì)使得薄膜拉伸；同時(shí)也會(huì)影響測(cè)量參數(shù)和測(cè)量結(jié)果?？偨Y(jié)上述，制造商出廠時(shí)提供的 V（電壓）-W（功率）曲線不能被完全依賴用于校準(zhǔn)高萊盒探測(cè)器。
優(yōu)秀的解決方案就是測(cè)試前直接在用戶實(shí)驗(yàn)室對(duì)高萊盒探測(cè)器進(jìn)行校準(zhǔn)。這就是我們高萊盒太赫茲探測(cè)器校準(zhǔn)裝置的應(yīng)用目的。
高萊盒太赫茲探測(cè)器校準(zhǔn)裝置是一款現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證準(zhǔn)確性的裝置，評(píng)估其穩(wěn)定性以及調(diào)節(jié)校準(zhǔn)系數(shù)。上海屹持光電推出的高萊盒太赫茲探測(cè)器校準(zhǔn)裝置可以在不同環(huán)境下提供較大精確度的測(cè)量結(jié)果。
高萊盒太赫茲探測(cè)器校準(zhǔn)裝置的主要部分就是一個(gè)非常穩(wěn)定的輻射溫度在100℃的熱源。
產(chǎn)品參數(shù)
| 輻射熱源的溫度 | 100℃ |
| 輻射源溫度**置信度 | ±1℃ |
| 溫度穩(wěn)定度 | ±0.1℃ |
| 15分鐘內(nèi)溫度漂移 | ±0.1℃ |
| 輻射源輸出孔直徑 | 60±2mm |
| 電源電壓 | 90-230V |
| 電源頻率 | 50±0.5Hz |
| 功率 | 100 |
| 環(huán)境壓力 | 760*10-3 |
| 操作溫度 | 15℃-25℃ |
| 濕度 | 40%-80% |
| 設(shè)備尺寸 | 260*180*120mm |
| 設(shè)備重量 | 2.5kg |
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