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SID4-SWIR-HR高分辨近紅外波前分析儀
SID4-SWIR-HR高分辨近紅外波前分析儀

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產地

法國

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上海屹持光電技術有限公司

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SID4-Swir-HR波前傳感器

基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術和高質量的InGaAs探測器,提供了一個非常高的空間分辨率和靈敏度。確保測量紅外鏡頭和短波紅外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光譜范圍從0.91.7μm,這種波前傳感器覆蓋可見光、近紅外和短波紅外區(qū)域且不需要任何校準直接進行測量。

特點:

由于其獨特的**技術技術,PhasicsSID4-Swir波前傳感器具備以下特點:

1.高分辨率160x128測量點

2.高靈敏密度:整個光譜范圍內相位噪聲低于2nm

3.消色差0.9-1.7μm(可擴展到2.4μm

4.緊湊:易于集成

應用:

透鏡測試:SID4 SWIR波前分析儀實時測量光學元件MTF和畸變。適用于光通信,夜視和其他軍事和監(jiān)視設備。無色差,SID4 SWIR涵蓋所有光通信波長。

激光束測試:SID4 SWIR也可以短波紅外光源,像1.55μm激光器或用于激光導向系統(tǒng)的LED。

SID4-Swir產品參數(shù):

波長范圍

0.9-1.7μm(可擴展到2.4μm

通光孔徑

9.6 x 7.68 mm2

空間分辨率

60 μm

采樣點(相位/強度)

160 x 128 (> 19 000 points)

相位相對靈敏度

<2nm RMS

相位精度

15nm RMS

動態(tài)范圍

100μM

采樣頻率

120 fps

實時分析頻率

7 fps (full resolution)

數(shù)據接口

Giga Ethernet

尺寸(w x h x l)

100 x 55 x 63 mm

重量

455g

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產品質量

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10分

易用性

10分

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