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法國Phasics SID4系列波前分析儀
法國Phasics SID4系列波前分析儀

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型號

品牌

產(chǎn)地

法國

樣本

暫無
上海屹持光電技術(shù)有限公司

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第2年

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法國phasicssid4系列波前傳感器

-----四波橫向剪切干涉波前傳感器

產(chǎn)品介紹:法國phasics 的波前分析儀(上海屹持光電代理),基于其波前測量**——四波橫向剪切干涉技術(shù)(4-wave lateral shearing interferometry)。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型,這種獨特的**技術(shù)將超高分辨率和超大動態(tài)范圍有效結(jié)合在一起。任何應(yīng)用下,其都能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。

主要應(yīng)用領(lǐng)域:

1. 激光光束參數(shù)測量:相位(2d/3d),m2,束腰位置,直徑,澤尼克/勒讓德系數(shù)

2. 自適應(yīng)光學(xué):焦斑優(yōu)化,光束整形

3. 元器件表面質(zhì)量分析:表面質(zhì)量(rms,ptv,wfe),曲率半徑

4. 光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析:mtf, psf, efl, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

5. 熱成像分析,等離子體特征分析

6. 生物應(yīng)用:蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

產(chǎn)品特點:

1. 高分辨率:*多采樣點可達(dá)120000個

2. 可直接測量:消色差設(shè)計,測量前無需再次對波長校準(zhǔn)

3. 消色差:干涉和衍射對波長相消

4. 高動態(tài)范圍:高達(dá)500μm

5. 防震設(shè)計,內(nèi)部光柵橫向剪切干涉,對實驗條件要求簡單,無需隔震平臺也可測試

型號參數(shù):

型號

sid4

sid4-hr

sid4-dwir

sid4-swir

sid4-nir

sid4-uv

孔徑mm

3.6 × 4.8

8.9 × 11.8

13.44 × 10.08

9.6 × 7.68

3.6 × 4.8

7.4 × 7.4

分辨率μm

29.6

29.6

68

120 μ

29.6

29.6

采樣點

160 × 120

400 × 300

160 × 120

80 × 64

160 × 120

250 × 250

波長

400 -1100 nm

400 - 1100 nm

3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm

0.9 ~ 1.7 μm

1.5 ~ 1.6 μm

250 ~ 450 nm

動態(tài)范圍

> 100 μm

> 500 μm

n/a

~ 100 μm

> 100 μm

> 200 μm

精度

10 nm rms

15 nm rms

75 nm rms

10 nm rms

> 15 nm rms

20 nm rms

靈敏度

< 2 nm rms

< 2 nm rms

< 25 nm rms

<3>

< 11 nm rms

2 nm rms

采樣頻率

> 100 fps

> 10 fps

> 50 fps

25-60 fps

60 fps

30 fps

處理頻率

10 hz

3 hz

20 hz

> 10 hz

10 hz

> 2 hz

尺寸mm

54 × 46 × 75.3

54 × 46 × 79

85 × 116 × 179

50 × 50 × 90

44 × 33 × 57.5

53 × 63 × 83

重量

250 g

250 g

1.6 kg

300 g

250 g

450 g

四波橫向剪切干涉技術(shù)背景介紹

phasics四波橫向剪切干涉(上海屹持光電代理):當(dāng)待測波前經(jīng)過波前分析儀時,光波通過特制光柵(圖1)后得到一個與其自身有一定橫向位移的復(fù)制光束,此復(fù)制光波與待測光波發(fā)生干涉,形成橫向剪切干涉,兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋(圖2)。被測波前可能為平面波或者匯聚波,對于平面橫向剪切干涉,為被測波前在其自身平面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個復(fù)制光波;而對于匯聚橫向剪切干涉,復(fù)制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息,通過特定的分析和定量計算梳理(反傅里葉變換)可以再現(xiàn)原始波前(圖3)。

圖1.特制光柵 圖2.幾何光學(xué)描述波前畸變

圖3. 波前相位重構(gòu)示意圖

技術(shù)優(yōu)勢

1. 高采樣點:

高達(dá)400*300個采樣點,具備強大的局部畸變測試能力,降低測量不準(zhǔn)確性和噪聲;同時得到高精度強度分布圖。

2. 消色差:

干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長因子,干涉條紋間距與光柵間距完全相等。適應(yīng)于不多波長光學(xué)測量且不需要重復(fù)校準(zhǔn),

3. 可直接測量高動態(tài)范圍波前:

可見光波段可達(dá)500μm的高動態(tài)范圍;可測試離焦量,大相差,非球面和復(fù)曲面等測。

圖4.測試對比圖 圖5. 消色差 圖6.高動態(tài)范圍測量

應(yīng)用方向:

1.激光光束測量

可以實時測量強度相位(2d/3d)信息,zernike/legendre系數(shù),遠(yuǎn)場,光束參數(shù),光束形狀m2等。

2光學(xué)測量

phasics波前傳感器可對光學(xué)系統(tǒng)和元器件進(jìn)行透射和反射式測量,專業(yè)kaleo軟件可分析psf,mtf等

光學(xué)測量 透射式和反射式測量

3.光學(xué)整形:

利用phasics波前傳感器檢測到精確的波前畸變信息,反饋給波前校正系統(tǒng)以補償待測波前的畸變,從而得到目標(biāo)波前相位分布和光束形狀。右圖上為把一束rms=1.48λ的會聚光矯正為rms=0.02λ的準(zhǔn)平面波;右圖下為把分散焦點光斑矯正為準(zhǔn)高斯光束。高頻率大氣湍流自適應(yīng)需要配合高頻波前分析儀。

4.光學(xué)表面測量:

phasics的sid4軟件可以直接測量ptv, rms, wfe和曲率半徑等,可直接進(jìn)行自我校準(zhǔn),兩次測量相位作差等。非常方便應(yīng)用于平面球面等形貌測量。部分測量光路如右圖所示

5.等離子體測量

法國phasics公司sid4系列等離子體分析儀(plasma diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體分析儀器。該產(chǎn)品可實時檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴散過程,以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。更好地為客戶在噴嘴設(shè)計、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。

附:夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表

phasics剪切干涉

夏克哈特曼

區(qū)別

技術(shù)

四波側(cè)向剪切干涉

夏克-哈特曼

phasics sid4是對夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn),投放市場時,已經(jīng)申請技術(shù)**,全球售出超過500個探測器。

重建方式

傅里葉變換

分區(qū)方法(直接數(shù)值積分)或模式法(多項式擬合)

夏克-哈特曼波前探測器,以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似。對于大孔徑的透鏡單元,可能會增加信號誤差,在某些情況,產(chǎn)生嚴(yán)重影響。在分區(qū)方法中,邊界條件很重要。

光強度

由于采用傅里葉變換方法,測量對強度變化不敏感

由于需要測量焦點位置,測量對強度變化靈敏

關(guān)于測量精度,波前測量不依賴于光強度水平

使用、對準(zhǔn)方便

界面直觀,利用針孔進(jìn)行對準(zhǔn)

安裝困難,需要精密的調(diào)節(jié)臺

sid4 產(chǎn)品使用方便

取樣(測量點)

sid4-hr達(dá)300*400測量點

128*128測量點(微透鏡陣列)

sid4-hr具有很高的分辨率。這使得測量結(jié)果更可靠,也更穩(wěn)定

數(shù)值孔徑

sid4 hr na0.5

0.1

sid4-hr動態(tài)范圍更高

空間分辨率

29.6μm

>100μm

sid4-hr空間分辨率更好

靈敏度

2nmrms

約λ/100

sid4-hr具有更好的靈敏度

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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