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Eachwave推出的太赫茲衰減全反射測(cè)試模塊,主要針對(duì)含水量多的細(xì)胞、組織等樣品,可以通過衰減全反射的方式測(cè)試出樣品對(duì)太赫茲波譜的吸收譜??梢哉嬲膶⑻掌澆ㄗV的生物大分子指紋識(shí)別特性應(yīng)用于生物樣品的分析測(cè)試中去。讓更多人的生物科研用戶多了一個(gè)新型的強(qiáng)而有力的樣品分析研究手段。
太赫茲衰減全反射測(cè)試,專門用于測(cè)試對(duì)入射的太赫茲光譜具有強(qiáng)烈吸收的樣品。太赫茲波段的衰減全反射模塊核心部件是一塊高阻硅(HRSi)棱鏡,HRSi在太赫茲波段(0.1-4THz)具有平坦且很高的折射率,在0.1-4THz,HRSi折射率約為3.416。
如下圖所示,太赫茲光束經(jīng)過高折射率的高阻硅(HRSi)棱鏡,入射到小折射率的樣品上,在樣品與高阻硅(HRSi)界面全反射,此過程中,太赫茲(THz)光束會(huì)在樣品中有一定的穿透深度,即全反射過程中產(chǎn)生的倏逝波會(huì)在樣品中傳播一段距離并*終攜帶樣品的信息反射出來。通過這種方法可以測(cè)試對(duì)太赫茲波吸收強(qiáng)烈、不能用常規(guī)透射或反射方法測(cè)試的樣品(如生物樣品、細(xì)胞蛋白質(zhì)等)。
技術(shù)參數(shù)
高阻硅折射率 | 3.416 |
樣品池尺寸 | 25mm*40mm |
樣品折射率要求 | < 2.5 |
THz光束入射角度 | 51.6° |
太赫茲衰減全反射測(cè)試模塊用于客戶的TDS系統(tǒng)中
暫無數(shù)據(jù)!