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FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252

高性能X射線熒光測量儀，配有***的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

特點

高性能機型，具有強大的綜合測量能力

配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位

典型應用領域

對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析

用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域

FISCHERSCOPE® XDL®

X射線熒光測試儀，可手動或全自動測量功能性鍍層(包括鉻層測厚、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件

XDL鍍層厚度測量儀特點

堅固耐用的鍍層厚度測量設備，甚至可在較大的距離測量（DCM功能，范圍0-80 mm）工作

固定光圈和固定濾光鏡

用于1mm起大小的測量點

底部C型開槽的大容量測量艙

可編程的臺式設備，用于自動測量

標準X射線管，比例計數(shù)器

XDL鍍層厚度測量儀典型應用領域

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件

防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻。鉻層測厚、銅厚測量

電鍍工業(yè)中電鍍液的分析

黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

高性能X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素

儀器特點

高級型號儀器，具有常見的所有功能

射線激發(fā)量的靈活性**，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變

通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數(shù)率） 的超高信號量下也可以正常工作，而不會出現(xiàn)能量分辨率的降低

極低的檢測下限和出色的測量重復度

帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器

大容量便于操作的測量艙

典型應用領域

測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業(yè)中

痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測

進行高精度的黃金和貴金屬分析

光伏產(chǎn)業(yè)

測量 NiP 鍍層的厚度和成分