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塞貝克系數(shù)/電阻分析系統(tǒng) CTA-3S
鄭重承諾:全球甄選知名供貨商,保證系統(tǒng)品質(zhì)達到**!
堅決不做低價、減配、低品質(zhì)的經(jīng)濟版本和精簡版等系統(tǒng),維護國內(nèi)用戶的**利益!
熱電材料測試系統(tǒng)CTA-3S系統(tǒng)是在CTA-3系統(tǒng)的基礎(chǔ)上升級性能更加強大的硬件(數(shù)據(jù)采集、變壓器、功率調(diào)控模塊、溫度調(diào)節(jié)器和電磁場屏蔽處理、溫度控制方式等優(yōu)化),提高了溫度場控制精度和測量數(shù)據(jù)的準確性和重復(fù)性。
技術(shù)特點:
·可控溫場下可同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率
·標準配置進口高級商用吉時利(Keithley )數(shù)采儀表,避免電路板集成數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差
Keithley技術(shù):
100nV rms 噪音本底
直流電壓靈敏度低至 10nV,基本精度為 0.002%(90天)
7ppm DCV 可重復(fù)性,基本 1 年 DCV 準確度:0.0028%
**讀取速度范圍:2k 讀數(shù)/秒;
溫度分辨率:0.001℃;
交流電壓分辨率:0.1μV
電阻分辨率:1 μΩ
電流分辨率:1nA
低功耗歐姆測量模式
弱電流電路測試功能
偏置補償歐姆功能
檢定低壓元件又快又準確
提高測量精度的置信度
以低至 100μA 的源電流測量低阻抗,**程度減少設(shè)備自發(fā)熱
進行電阻測量時控制測試電壓,避免擊穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除會在系統(tǒng)環(huán)境中進行低電平電阻測量時產(chǎn)生錯誤的熱效應(yīng)
提供更精確的低電阻測量
·標配進口高級商用電流源(ADCMT),非電路板集成恒流源,避免無法精準輸出小電流而產(chǎn)生熱效應(yīng)和測不準
·恒流源參數(shù):0.000-220mA;恒流設(shè)置分辨率:100nA;恒流穩(wěn)定性:0.008+20nA/天
·溫度范圍:RT up to 1150℃
·光波爐加熱技術(shù),潔凈加熱不污染樣品和無揮發(fā)性,對操作者安全健康;整體水路設(shè)計和鍍金處理,無水垢堵塞問題,終身免維護·控溫速率:0.01 –100K/min,可以節(jié)約用戶測試時間
·配置垂直放樣結(jié)構(gòu),上下樣品支架夾持(三明治),精確控制溫度差
·測量范圍:賽貝克系數(shù):0.5μV/K-25V/K;電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K溫差范圍可任意設(shè)置溫差值及溫差點的個數(shù)
· U-I曲線自動掃描,計算出合適的電流數(shù)值,可以精確測量電導(dǎo)率;不會對大電阻樣品產(chǎn)生誤差
·鉑金大電極設(shè)計,和樣品可充分接觸,對于不均勻樣品也可獲得良好的導(dǎo)電測試
·熱電偶間距可以根據(jù)樣品尺寸調(diào)節(jié)后固定,滿足不同科研要求
·精度:賽貝克系數(shù):±7 %;電導(dǎo)系數(shù):±10 %(熱電材料測試,非康銅標樣);
·重復(fù)性:3%
·高級應(yīng)用程序控溫技術(shù),包括溫差和測量步進等高級要求
·自由升/降溫、可精確控制溫度程序,進行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測量
·熱電偶探針可選K、S、R型(無需鎧裝)配置,不會產(chǎn)生非常大的接觸電阻
·自動壓力安全保護設(shè)計,進口美國航天級硬件配置,確保測試過程中不會發(fā)生爆炸
·測量系統(tǒng):柱狀、片狀、長方體、薄膜等系統(tǒng)
技術(shù)規(guī)格
溫度范圍 | RT up to 1150°C | |
控溫速率 | 0.01 – 100k/min | |
控溫精度 | +/-0.25K | |
測量方法 | 賽貝克系數(shù):靜態(tài)直流電 | 電阻系數(shù):四端法 |
測量范圍 | 賽貝克系數(shù):0.5μV/K-25V/K | 電阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm |
分辨率 | 賽貝克系數(shù):10nV/K | 電阻率:10nOhmm |
精度 | 賽貝克系數(shù):± 7 % | 電導(dǎo)系數(shù):± 10 % |
重復(fù)性 | 3% | |
電流 | 0 to 220 mA(可控精準≤0.005mA) 恒流設(shè)置分辨率:100nA 恒流穩(wěn)定性:0.008+20nA/天 | |
數(shù)據(jù)采集 | 100nV rms 噪音本底 直流電壓靈敏度低至 10nV,基本精度為 0.002%(90天) 7ppm DCV 可重復(fù)性,基本 1 年 DCV 準確度:0.0028% **讀取速度范圍:2k 讀數(shù)/秒 溫度分辨率:0.001℃; 交流電壓分辨率:0.1μV 電阻分辨率:1 μΩ 電流分辨率:1nA | |
氣氛 | He、氧化、還原、真空 | |
真空度 | 10E-3mbar | |
樣品尺寸 | 直徑或正方形:2 to 4 mm;長度:6 to 22mm |
應(yīng)用
1、2018年5月18日,世界**期刊《Science》發(fā)表了北京航空航天大學(xué)趙老師等學(xué)者在熱電材料硒化錫應(yīng)用方面的重大研究成果:三維電子/二維聲子實現(xiàn)高ZT。祝賀趙老師課題組和其它合作課題組!
文章內(nèi)容鏈接:
2、2019年9月27日,《Science》雜志在線以全文Article的形式發(fā)表了北京航空航天大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院趙立東教授課題組在熱電材料研究上取得的新進展:
《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》發(fā)現(xiàn)并利用硫化錫(SnS)的多個能帶隨著溫度的演變規(guī)律,通過引入Se優(yōu)化調(diào)控了有效質(zhì)量和遷移率的矛盾,在儲量豐富、成本低廉、環(huán)境友好的SnS晶體材料中實現(xiàn)了高的熱電性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。
該工作通過溫度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶體結(jié)構(gòu),并實現(xiàn)三個分離電子能帶之間相互作用的控制。Se 的引入實現(xiàn)電子傳輸(μ)和有效質(zhì)量(m*)兩大參數(shù)的同時優(yōu)化。300 K 時,PF 值從 30 升至 50 mW cm?1 K?2; 873 K 時,ZT **值和均值分別為 1.6 和 1.25。這種控制策略為優(yōu)化熱電性能提供了一條不同的途徑。開發(fā)高性能SnS晶體是向低成本、地球資源豐富和環(huán)境友好型熱電技術(shù)邁進的重要一步。
文獻鏈接:High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals, 2019, Science, DOI:10.1126/science.aax5123.
以下附件不包含在CTA系統(tǒng)標準配置中,需要用戶選配!
1、薄膜樣品夾具CTA-tff
薄膜樣品夾具CTA-tff由不銹鋼材料精加工和人工手工琢磨打造,采用先進的分體式設(shè)計理念,可以對不同長度樣品夾持,可適配不同熱偶間距(4、6、8 mm);應(yīng)用順滑螺絲緊固的方法,可以對不同的樣品緊固,由于采用了金屬作為導(dǎo)體接觸電極塊,無需額外的金屬片就可以良好接觸電極導(dǎo)通。夾具可以匹配不同品牌的熱電材料分析系統(tǒng),方便國內(nèi)用戶的使用和更替。
技術(shù)參數(shù)
·夾具材質(zhì):不銹鋼(其它貴金屬可定制)
·夾持調(diào)節(jié):分體式
·夾持方式:螺絲緊固
·樣品厚度:≤1.80 mm (包含底襯)
·樣品寬度:≥4.00 mm
·樣品高度:依據(jù)探針熱偶間距(4、6、8 mm)
2、視頻測距系統(tǒng) Vra
在測試熱電材料的性能時,樣品熱偶間距的精確值對電導(dǎo)率測試的準確性非常重要;功率因子直接受電導(dǎo)率影響,進而影響熱電優(yōu)值。
隨著熱偶的使用過程中, 需要不停的打磨熱偶的金屬頭, 熱偶的金屬頭和樣品的接觸點會不停的變化, 眼睛無法精準分辨接觸點的實際位置,如果用游標卡尺去測量這個間距,每個人會得出不同的數(shù)值,那么如何確保測量準確的, 采用視頻法測距是目前*可靠的方法之一。
為此柯銳歐設(shè)計了視頻測距系統(tǒng)(Vra),該系統(tǒng)由專業(yè)相機、鏡頭和視頻軟件、背景燈、支架、USB接口等組成, 可以自動快速、準確測量出樣品熱偶的間距,消除人眼測量誤差和實際變化的固定距離帶來的誤差;配合CTA的高級軟件, 可以自動輸入測試實驗參數(shù)欄,方便易用的設(shè)計,滿足了CTA用戶的需求。 同時該系統(tǒng)可以配置在其它品牌的熱電測試系統(tǒng)上使用, 為國內(nèi)的熱電材料科研工作者提供服務(wù)!
暫無數(shù)據(jù)!