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ATR衰減全反射探頭
Attenuated Total Reflectance Probe ATR探頭是測(cè)量吸光率在4000-5000 AU/cm 的樣品的理想產(chǎn)品。它能夠直接插入樣品中,不需要稀釋樣品就能獲得光譜。典型的應(yīng)用包括純墨水樣品、染色樣品和原油樣品的測(cè)量。另外,如果探頭頂部的接觸樣品的折射率大于ATR探頭的藍(lán)寶石晶體的折射率,或大于1.7,ATR探頭可用作通用探頭。
ATR探頭被設(shè)計(jì)用于工業(yè)過(guò)程應(yīng)用,曾經(jīng)在10,000psig的環(huán)境下接受測(cè)試。ATR探頭可以在315C的溫度下工作。ATR探頭是個(gè)經(jīng)過(guò)三次反射的探頭,并且可以穿透被測(cè)量波長(zhǎng)的衰逝波/倏逝波。
應(yīng)用場(chǎng)景
ATR(attenuated total reflection,衰減全反射),
定義:入射面內(nèi)偏振的單色平面光波在密-疏媒質(zhì)的界上全反射時(shí),光疏媒質(zhì)中所形成的迅衰場(chǎng)(見(jiàn)衰減波)量可以被耦合到金屬或半導(dǎo)體的表面上而使表面等離元(SP)或表面極化激元共振激發(fā)。全反射的光強(qiáng)因而發(fā)生劇邃衰減的現(xiàn)象。
利用光學(xué)中的迅衰場(chǎng)與SP相耦合衰減全反射方法在1968年由A.奧托提出。
應(yīng)用:ATR在實(shí)際應(yīng)用中,作為紅外光譜法的重要實(shí)驗(yàn)方法之一,從一開(kāi)始便顯示出其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和廣闊的應(yīng)用前景。由于其并不需要通過(guò)透過(guò)樣品的信號(hào),而是通過(guò)樣品表面的反射信號(hào)獲得樣品表層有機(jī)成份的結(jié)構(gòu)信息。不但簡(jiǎn)化了樣品的制作過(guò)程,而且極大地?cái)U(kuò)大了紅外光譜法的應(yīng)用范圍。使許多采用傳統(tǒng)透過(guò)法無(wú)法制樣,或者樣品制備過(guò)程十分復(fù)雜、難度大、而效果又不理想的實(shí)驗(yàn)成為可能。因此,被廣泛應(yīng)用于塑料、纖維、橡膠、涂料、粘合劑等高分子材料制品的表面成份分析。
詳細(xì)參數(shù)
型號(hào) | 規(guī)格 |
推薦使用的光纖直徑: | 600 μm |
外部直徑: | 19 mm (0.75") |
探頭長(zhǎng)度: | ~305 mm |
身體材料: | 316 不銹鋼(標(biāo)準(zhǔn)); Hastelloy C, Titantium 和 Monel 也可用 |
晶體材料: | 藍(lán)寶石 |
密封: | 標(biāo)準(zhǔn)用Viton,也可選Chemraz, Kalrez |
壓強(qiáng)限制: | 10,000 psig |
光纖接頭: | SMA 905 |
溫度限制: | 300 oC |
波長(zhǎng)范圍: | UV-NIR |
暫無(wú)數(shù)據(jù)!