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反射透射平臺
反射平臺是做反射測量時候的探頭支架，可以放置小于150mm的光學鍍層和基底樣品。支架可以安裝6.35直徑的反射探頭，并且可以在高度上調(diào)整大約63.5mm。平臺上刻有不同直徑的圓，可以更方便的對準樣品。
Stage-RTL-T型平臺是一種新型取樣系統(tǒng)，用來分析如硅、金屬、玻璃和塑料一類的材料。RTL-T與我們的光譜儀和光源多種組合方式，配合進行反射和傳輸測量
Stage-RTL-T包括一個附著在基座上的可調(diào)軌夾。有三個用螺絲固定在軌夾上的設(shè)備，包括一個帶 UV-VIS校準鏡頭的光纖固定器；一個反射和傳送的樣品盒；一個光阱用來減少背射光和環(huán)境光的影響。
STAGE | STAGE-RTL-T | |
尺寸: | 152.4 mm 直徑(base) | 206.3 mm 直徑(base) |
尺寸: | 101.6 mm 直徑(樣品區(qū)域) | 152.4 mm 直徑 (采樣支架)(樣品區(qū)域) |
重量: | 620 g | 4.5 kg |
高度: | 導軌高度可調(diào) 63.5 mm | 導軌高度可調(diào) 400 mm |
材質(zhì): | 陽極氧化鋁底盤， 不銹鋼支桿 | 陽極氧化鋁 |
對于簡易的反射測量需求，我們也可以提供STAGE平臺。
為了提高調(diào)整的精度和更加靈活的應(yīng)用場合，我們開發(fā)了增強型的STAGE-RM平臺，
透反射樣品支架是常用的光譜測量附件，與反射探頭共用可實現(xiàn)反射光譜測量，與兩根光纖跳線共用可實現(xiàn)透射光譜測量。透反射樣品支架包括可調(diào)滑軌、底座、樣品調(diào)整座以及兩個準直透鏡，型號為STAGE-RM的增強型透反射樣品支架還包括一維平移臺以及萬向桿架。該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于硅、金屬、玻璃、塑料、珠寶等樣品的透射和反射光譜測量。
透反射樣品支架
- 實現(xiàn)透射和反射光譜測量
- 測量高度可調(diào)
- 測量高度可通過一維平移臺微調(diào)
- 自帶兩個準直透鏡
- 可定制配合安裝孔尺寸
如果需要其他相關(guān)配件，例如光源，光譜儀，光纖，積分球等，可以聯(lián)系韻翔光電。
暫無數(shù)據(jù)！
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