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單波長色散X射線熒光光譜儀

Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）

特點(diǎn)：

• 靈敏：高選擇性檢測硫元素，檢測限達(dá)到0.4PPM，是針對硫元素*靈敏的X射線熒光光譜儀

• 穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）**技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后，不再產(chǎn)生位移或偏差，**限度的保證了儀器的長期穩(wěn)定性

• 快速：單個樣品準(zhǔn)備時間小于10秒鐘；單個樣品分析時間*長300秒；開機(jī)10分鐘內(nèi)即可測試樣品

• 經(jīng)濟(jì)：單個樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗

• 方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡單；長時間使用無硬件更換；無需經(jīng)常校正標(biāo)準(zhǔn)曲線

原理：X射線光管出射譜是由連續(xù)譜線和特征譜線組成，初級全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強(qiáng)度的特征X射線，從而入射到樣品的X射線具有極好的單色性，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線（線光譜）和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外，不存在連續(xù)線散射背景。單色入射Cr:Kα線激發(fā)樣品中的硫Kα線，硫Kα線進(jìn)一步被大面積全聚焦雙曲面彎晶收集，聚焦到探測器中檢出，從而實(shí)現(xiàn)對樣品中硫元素高選擇性和高靈敏度檢測。

*低檢出限LLD：0.4ppm

測量范圍：0.4ppm--5%

測量時間：60秒--300秒

重復(fù)性：Sn-1≤0.2ppm（2ppm），0.5ppm（10ppm），2.5ppm（50ppm）

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