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OPTINO波前測試系統
OPTINO波前測試系統

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意大利

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暫無
光傲科技股份有限公司

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Optino 波前探測系統

不僅僅是一個波前探測系統,

更是一個完整光學綜合測試系統

不僅可以用于實驗室光學測試,

也可以適用于生產環(huán)境條件

可測試的光學元件和系統
  • 透鏡、非球面透鏡
  • 相機、手機攝像等鏡頭測試
  • 棱鏡
  • 球面、非球面、平面鏡
  • 各種濾光片
  • 隱形眼鏡、眼科鏡片
  • 復雜光學系統
  • 平視顯示系統(HUD)
  • 研磨板
  • 晶圓(wafer)
  • 激光
可測試評價的項目
  • 光學失常、像差測試
  • 波前或表面重建
  • 光學元件透過率測試
  • 平面度測試
  • 楔角測試
  • 復雜光學系統對準
  • 準直
  • 焦長測試
  • MTF (調制傳遞函數)
  • PSF (點擴散函數)
  • Strehl ratio
  • 激光光斑品質、光束、M2、發(fā)散角測試

主要型號及功能特點

產品系列

主要特點

Omi

基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型,價格優(yōu)惠

Optino Uno

基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型增加一個固定的準直器,用于光源準直。具有所有光學分析所需的基本功能,包含光纖光源。

  • 15 種針對不同測試需求的配置

  • 無隔行快速讀出 1Kx1K 相機信號

  • 固定準直器(平行光管)

  • 基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多項式系數、波陣面、Strehl Ratio 等.

  • 軟件根據測到的像散、球差等提供調校指令

  • 根據軟件的圖形指示,依據參照標準或鏡面的CCD像面,對光學元件的焦距進行實時斜率調整

  • 圖像分析功能

  • 根據Shack-Hartmann 數據計算MTF、PSF、EE等數據(可選配置)

  • 仿真模擬功能(可選配置)

Optino Pro 專業(yè)版

具備Optino Uno 功能外, 增加馬達驅動的準直器(平行光管),以及先進的軟件功能,具備高度自動化。準直器可自動尋找焦點,也可對光束進行分析。

Optino EE 工程版

具備Optino Pro 所有功能,具備更強大的軟件功能,并經過優(yōu)化,可以使用生產環(huán)境中使用,測試速度快。采用回饋 環(huán)路控制,并以10Hz的采樣頻率進行光學質量測試。

Optino+ Beam profiler 光束分析

具備Optino Pro所有功能, 另外加裝第二個CCD,用于光斑形貌分析,光束失常及測量可同時在一臺設備上實現。

干涉儀與波前探測系統比較
Optino 波前測試系統相對于干涉儀的優(yōu)點
干涉儀 Optino 波前系統
1購買、運行、維護費用高非常便宜
2系統體積大,需要大型光學平臺結構緊湊,普通桌子就可以
3需要昂貴的隔振平臺非常耐用,無需隔振,普通桌子就可以,即使重擊桌子也不會影響測試結果或儀器性能
4需要潔凈室普通干凈的實驗室環(huán)境足夠了
5需要控制測試現場的氣流可以在緊靠打磨機器工作現場使用
6需要激光光源普通光源或激光均可
7由于激光波長范圍有限,只能工作在有限的幾個波長任何波長均可工作,從193nm到1700nm,軟件功能不受波長和配置的影響
8僅限于測試平面、球面及淺度非球面測試可以測試深度非球面元件(球形失常值達50λ
9不能測試非規(guī)則形狀元件可以測試非規(guī)則元件,如柱面鏡
10動態(tài)范圍受CCD探測器上干涉條紋限制,方法本身具有高動態(tài)特性
Optino Pro vs. Zygo GPI xp HR Interferometer:

通過使用Zygo GPI xp HR干涉儀和Spot-Optics公司的Optino 波前測試系統對一個硬盤上小面積(7mm)區(qū)域,進行測試對比。

右圖白色圓圈位置的區(qū)域即為測試區(qū)域,是一個平整的表面,測試的波長為632nm,下圖為主要測試得到的參數對比:

去除了傾斜(Tilt), Piston and 散焦 (defocus)影響后的表面3D形貌圖( Zygo ) 去除了傾斜和散焦的3D表面形貌圖(Optino)
由上可見:基于Shack-Hartmann 測試原理的Optino 可以獲得與Zygo干涉儀一致的測試結果

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產品質量

10分

售后服務

10分

易用性

10分

性價比

10分
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