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LaiPen LP110葉面積指數(shù)測量儀用于測量闊葉冠層的葉面積指數(shù)（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數(shù)是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數(shù)。即：葉面積指數(shù)=葉片總面積/土地面積。

其他測量LAI的儀器，一般都需要有云或者特定日傾角才能達到**性能，而LaiPen在大部分日照條件下都可以得到準確的數(shù)據，能夠在多種環(huán)境條件下為科學家提供快速可靠的測量結果。

工作原理：

LaiPen LP110使用一個廣角光學傳感器測量太陽輻射進而計算LAI和其他冠層結構指標。LaiPen LP110在冠層上下進行5個不同角度的測量來確定冠層的光截獲，將數(shù)據代入植被冠層輻射傳輸模型來計算LAI。

工作模式：

LaiPen LP110可以兩種操作模式進行工作：

單傳感器模式——使用同一臺儀器在測量前、后或者測量中進行參照測量

雙傳感器模式——使用第二臺儀器進行參照信號的自動測量和記錄

LaiPen LP110葉面積指數(shù)測量儀應用領域：

· 冠層生長與生產力

· 森林動態(tài)

· 空氣污染、蟲害、病害等脅迫對植物的影響

· 遙感數(shù)據的地面校準和驗證

· 全球碳循環(huán)