該測試系統為自動測試系統,具有測試快速準確、操作簡單、可靠性高度特點,能實現了200-250nm范圍內**光譜響應度、量子效率、歸一化探測率、信號電壓、噪聲電壓、響應時間等參數隨波長、頻率、外加偏壓的變化曲線的全自動測試。
技術指標
- 光譜范圍:200-2500nm(可根據實際需要選擇)
- 光電源電流漂移:< 0.04%/h
- 波長準確度:±02nm
- 光譜分辨率:± 0.1nm
- 光譜帶寬:0.2-10nm 可調
- 光斑:15mm,各點不均勻性<1%
- 偏壓源:電壓:200uV-505V;電流:20fA-200mA
- 系統噪聲:< 2mV
- 系統重復性:< 2%
- 激光監(jiān)視光路:CCD 圖像監(jiān)視,可對極小光電探測器進行精確定位。