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半導(dǎo)體材料能帶測試，亞帶隙測量系統(tǒng)
該系統(tǒng)采用恒定光電流法分析半導(dǎo)體薄膜和各種光導(dǎo)材料的帶隙結(jié)構(gòu)，是評價非晶硅和各種非晶半導(dǎo)體的理想方法。
規(guī)格：
原理:恒流法(CPM)
光源:氙燈或鹵素?zé)?/span>
工作范圍:約4小時，13 - 0.59 ev (300 - 2100 nm)
輻照面積:6 x6mm
輻照強(qiáng)度:2 nw-2mw
暫無數(shù)據(jù)！
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