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　　SOC-100半球定向反射率測量儀（HDR）及其應用軟件具有一個獨特的材料光學性能的表征和利用能力，是一套功能強大的半球定向反射率測量工具。配備Nicolet FTIR，SOC-100可提供FTIR所涵蓋光譜區(qū)域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射測量。使用標準FTIR，所測量光譜區(qū)域為2.0至25.0μm，也可通過客戶定制的FTIR擴展到45μm。

　　測量材料漫反射率的傳統(tǒng)技術是利用積分球捕捉漫散射的能量。但由于積分球的固有能量限制，有價值的數(shù)據被限制在18μm內。而SOC-100利用2π半橢球以700°C黑體照射樣品。一個可移動的頂部反射鏡捕獲反射能量并準直到FTIR。SOC-100軟件使用MS Windows®界面，驅動FTIR并控制各種數(shù)據采集、進程管理、數(shù)據歸檔和報表生成。它與OMNIC軟件兼容，還具有附加軟件包，可進行光學常數(shù)的測定、漫反射涂層的設計、熱量分析和紅外場景模擬。

　　用途：

　　　　♦　熱量傳導

　　　　♦　特征分析

　　　　♦　涂料研發(fā)

　　　　♦　質量控制

　　　　♦　定量分析

　　　　♦　光學測試

　　測量數(shù)據：

　　　　♦　10°- 80°之間的用戶設定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率

　　　　♦　測量漫反射和鏡面反射，及0°入射的透射率

　　　　♦　溫度超過500℃和10°- 80°角度下，定向發(fā)射率的角度-波長-溫度函數(shù)

　　　　♦　總半球發(fā)射率的溫度函數(shù)

　　　　♦　數(shù)據格式選擇：ERAS、ASTM表格格式；反射率與波長或反射率與角度的圖形、線性或對數(shù)圖表。

　　軟件功能：

　　　　♦　標準軟件提供：儀器控制、項目和數(shù)據的基礎管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC軟件

　　　　♦　可選的應用軟件：光學常數(shù)測定、涂層設計分析、紅外場景模擬、熱分析

　　應用：

　　　　♦　支持紅外圖像模擬和紅外材料的開發(fā)

　　　　♦　鑒定和測量表面污染

　　　　♦　散射和鏡面反射檢測

　　　　♦　測量散裝和粉狀物料的偏振反射數(shù)據，以計算其光學常數(shù)（n，k）

　　　　♦　提供熱分析和熱傳導的溫度-波長函數(shù)發(fā)射率數(shù)據

　　　　♦　提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率數(shù)據

　　規(guī)格參數(shù)：

　　　　♦　測量配置：***的全自動18"半橢球反射率光譜儀

　　　　♦　光譜范圍：波長范圍取決于FTIR，如下表所示：

　　　　　　　　標準　　　　2.0-25.0μm　　　　　5000-400 cm^-1

　　　　　　　　固體基質　　14.0-200.0μm　　　　700-50 cm^-1

　　　　♦　探測器：靈敏的DTGS檢測器，不需液氮制冷，比HgCdTe（MCT檢測器）涵蓋的波長范圍更廣泛

　　　　♦　分辨率：根據需求：2、4、8、16或32 cm^-1的分辨率可以使用

　　　　♦　樣品尺寸：標準：樣品直徑1"；**可容納樣本尺寸3"×4"

　　　　♦　自動化測量：測量過程由電腦控制的5個步進電機自動化進行

　　SOC100半球定向反射率測量儀還有一款便攜版本，請見SOC410DHR便攜式紅外定向半球反射計。

產地：美國