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奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的
大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的
反射率,因此*適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。
測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。
反射率測定光路圖
反射率測定例:鏡片 反射率測定例:鏡片周邊部位
活用反射率數(shù)據(jù),測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
膜厚測定的圖例
根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。
物體色的測定圖例
數(shù)碼相機鏡片 /投影儀鏡片 / 眼鏡片
LED包裝 /半導(dǎo)體基板
液晶彩色濾鏡 /光學(xué)薄膜
棱鏡 /反射鏡
備注:標(biāo)配價格區(qū)間為50萬-80萬,根據(jù)選擇的配置價格可能會高出標(biāo)配價格。
-END-
暫無數(shù)據(jù)!