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ISAP LCPI納米顆粒分級(jí)采樣器

--納米顆粒采樣，低至1nm

ISAP LCPI( Low pressure cascade impactors)低壓級(jí)聯(lián)碰撞采樣器用于環(huán)境空氣、固定源排放和機(jī)動(dòng)車排放的分級(jí)采樣。采樣原理遵循PILAT/BERNER 碰撞器的設(shè)計(jì)。

該采樣器適合不同溫度范圍采樣，溫度從-50 到 +310 °C。使用耐酸腐蝕材料，煙氣中的酸性氣體不會(huì)腐蝕采樣器?？蓪?shí)現(xiàn)等速采樣。

采樣分級(jí)（27LPM）:

11級(jí)13粒徑段（BERNER Impactor）

10.0/ 5.0/ 2.5/ 1.0/ 0.5/ 0.25/ 0.12/ 0.06/ 0.03/ 0.015/ 0.0075 [/0.001back-up filter stage]

可選6級(jí)8粒徑段 (PILAT Impactor)

(20.0 Pre-separator/) 10.0/ 5.0/ 2.5/ 1.0/ 0.5/ 0.25/ 0.12 [/0.001 Back-up filter stage]

特點(diǎn)：

?低顆粒物損失流設(shè)計(jì)

?可選的抗靜電旁路

?每級(jí)高精度標(biāo)定

?大直徑碰撞盤：外徑70 mm內(nèi)徑 30 mm.

?流速范圍5-60 LPM

?切割粒徑范圍：20.0 μm ~ 1 nm

?溫度范圍：-50 ~ +310 °C

?預(yù)分離器

?恒流設(shè)計(jì)

?保溫夾套設(shè)計(jì)

?可選等速采樣入口，總顆粒物分析

?耐酸腐蝕設(shè)計(jì)

可選濾膜：

?玻璃纖維 glass microfiber

?石英濾膜 quartz microfiber

?聚酰亞胺polyimide (KAPTON®)

?聚碳酸酯polycarbonate (PC)—用于 SEM， AAS，ICP-MS，ICP-OES ，PIXE， TXRF等分析

?聚酯polyester

?聚丙烯polypropylene (PP)

?聚四氟乙烯(PTFE - TEFLON®)—用于 SEM， AAS，ICP-MS，ICP-OES ，PIXE， TXRF等分析

?聚氨酯泡沫polyurethane foam (PU)

?聚氟乙烯polyvinyl fluoride (PVF - TEDLAR®)

可選氣象傳感器：風(fēng)向、風(fēng)速、相對(duì)濕度、溫度、雨量、太陽(yáng)輻射、紫外、輻射、噪音、震動(dòng)