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三離子束切割儀Leica EM TIC 3X
三離子束切割儀Leica EM TIC 3X

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產(chǎn)地

德國

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天津徠科光學(xué)儀器有限公司

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為您帶來的優(yōu)勢

**性能

獨特的三離子束系統(tǒng),可獲得**的截面處理質(zhì)量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時間。并可實現(xiàn)在一次處理過程中*多處理3個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是**解決方案。

可裝配系統(tǒng)

根據(jù)您的樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計樣品臺-標準樣品臺,多樣品臺或冷凍樣品臺。

冷凍樣品臺

針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150° C。

樣品托

多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。

樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見

除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。

Leica EM TIC 3X - 設(shè)計和操作方面的創(chuàng)新性特點

高通量,提高成本收益 ;可獲得高質(zhì)量切割截面, 區(qū)域尺寸可 達>4×1mm; 多樣品臺設(shè)計可一次運行容納三個樣 品; 離子研磨速率高,Si材料150μm/ h,50μm切割高度,可滿足實驗室高通 量要求 ; 可容 納 * 大 樣 品 尺 寸 為 50×50×10mm ;可使用的樣品載臺多種多樣 簡單易用,高精度 ;可簡易準確地完成將樣品安裝到載臺 上以及調(diào)節(jié)與擋板相對位置的校準工 作 ;通過觸摸屏進行簡單操控,不需要特 別的操作技巧;樣品處理過程可實時監(jiān)控,可以通過 體視鏡或HD-TV攝像頭觀察;LED照明,便于觀察樣品和位置校準 ;內(nèi)置式,解耦合設(shè)計的真空泵系統(tǒng), 提供一個無振動的觀察視野 ;可在制備好的平整的切割截面上可 再進行襯度增強作用,即離子束刻 蝕處理;通過USB即可進行參數(shù)和程序的上 傳或下載;幾乎適用于任何材質(zhì)樣品 ;使用冷凍樣品臺,擋板和樣品溫度可 降至–150°C L 。

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