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臺灣樣本
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MF250N是UPRtek公司制造的一部輕巧,易攜帶的頻閃測量儀。以其優(yōu)良的性能和極高的性價比在市場上廣受好評。
MF250N手持式光波動頻率測試計(Handheld Lightwave meter)是全球首部**同時具備分光光譜數(shù)據(jù)頻閃檢測儀,同步提供CCT,LUX等光譜計數(shù)據(jù),專業(yè)的光源驅(qū)動波形測試,并附有簡易的光譜測試功能。適合專業(yè)工程人員作為其照明驅(qū)動頻率異常的測試;其中的重要頻閃分析參數(shù)有包括有:閃爍百分比(Percent Flicker)和閃爍指數(shù)(Flicker Index)及頻閃效應(yīng)可視參數(shù)SVM(stroboscopic effect visibility measure)。
功能
手持式頻閃測量儀MF250N偏重于在頻閃(Flicker)數(shù)據(jù)的測試分析,同時可以得到光源的光譜參數(shù)。若客戶僅需透過手持式的儀器與買家或賣家做即時性的產(chǎn)品規(guī)格比對、確認,或者推廣驗證自家產(chǎn)品的質(zhì)量,選擇MF250N相對是性價比很高的**選擇。
測量模式分為基本模式、光譜模式、頻閃模式、頻率模式、波幅模式。
基本模式中,可以得到測量光源后的相關(guān)色溫(CCT)、顯色指數(shù)(CRI)、照度(LUX)、峰值波長λP、曝光時間(I-Time)。
頻閃模式中,在測量界面上可以顯示4個頻閃相關(guān)參數(shù),Flicker Index、Flicker Percentage、Frequency、SVM。此模式是持續(xù)監(jiān)控測量,可以獲得該光源所包含的光源頻率的相對強度。
波幅模式可以連續(xù)監(jiān)控測量得到該光源的頻率和相對強度。
校正
建議每次開機使用MF250N前,執(zhí)行暗校正。同時,本品為高精度測量儀器,內(nèi)部包含許多敏感元件,請小心使用。為確保測量的準(zhǔn)確性,建議每年校正一次,校正服務(wù)請與本公司聯(lián)系。
通過 LightWave 模式,好比有一臺示波器立即檢測頻率波形,及顯示振幅大小變化。
透過FFT傅立葉轉(zhuǎn)換量測,了解燈源驅(qū)動原件與光源電路整合后,測出工作狀態(tài)波形vs.頻率,并進一步分析驅(qū)動細節(jié)。
IEEE PAR1789-Percent Flicker-頻閃百分比 (以Fpercentage(%)表示)
光源輸出周期變化的相對測量值,數(shù)值高代表頻閃可能性越高
標(biāo)準(zhǔn):Fpercentage(%)< 輸出頻率 x 0.08
Percent Flicke頻閃百分比r = 100% * [(A-B)/(A+B)]
圖中舉例量測得到結(jié)果: 58% 在頻率 120Hz的情況下
58% > 120Hz * 0.08 --à頻閃可能性高
Energy Star-Flicker Index-頻閃指數(shù)(以Findex表示)
數(shù)值:0-1 數(shù)值越大,頻閃越嚴重
限制:
1)100HZ ↓:不可有Flicker
2)100~800HZ: 符合要求區(qū)
3)800HZ ↑ : Flicker 允許(Flicker 指數(shù)可忽略)
SVM(Stroboscopic Visibility Measure)-低頻閃控制技術(shù)與指標(biāo)
推廣單位:PHILIPS & CIE & 美國能源局等組織共同合作研究 -針對 >80HZ 以上頻閃效應(yīng)的影響,制定量測標(biāo)準(zhǔn)
SVM>1 可見頻閃 ,SVM=1 剛好可見, SVM<1 不可見頻閃
例圖: 自轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)盤
便攜手持式頻閃測量儀MF250N的參數(shù)
暫無數(shù)據(jù)!