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簡單介紹
X射線探測器 的詳細(xì)介紹
高耦合效率,降低設(shè)備X光源的投入
影像不失真,讓系統(tǒng)軟件變得更簡單
采用光纖錐耦合的X射線探測器,**限度的提高了光通量,用1:1的光纖面板,耦合效率可達(dá)到70%,大大提高了相機(jī)的探測能力。圖像不失真,不需要對影像進(jìn)行較正,可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單。
此相機(jī)廣泛的應(yīng)用于工業(yè)無損檢測,如鑄件和焊接檢測、PCB板檢測、工業(yè)CT等。
BGA檢查 IC焊腳檢查 二極管質(zhì)量檢查 金線檢查
產(chǎn)品規(guī)格:
標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品有以下三個型號,根據(jù)X光源不同,要求分辨率以及目標(biāo)物的厚度不同,有可能需要改變熒光屏材料和厚度。我們向您提供**的解決方案。
產(chǎn)品型號 | HR-25-X-Ray | HR-40-X-Ray | HR-75-X-Ray |
CCD芯片 | 2/3’’芯片,752*582 | 2/3’’芯片,1392*1040 | 1.2’’芯片,2048*2048 |
像素尺寸 | 11.6um*11.2um | 6.45um*6.45um | 7.4um*7.4um |
輸出格式 | 標(biāo)準(zhǔn)CCIR模擬型號輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出 |
幀速 | 視頻速度 | 17幀或30幀 | 15幀 |
計算機(jī)接口 | 無 | 1394或以太網(wǎng)接口 | 以太網(wǎng)接口 |
視場 | 20mm*15mm(其它可選) | 32mm*24mm(其它可選) | 45um*45um |
熒光屏鍍膜 | P43(其它可選) | P43(其它可選) | P43(其它可選) |
X光響應(yīng)范圍 | 20kev-100kev | 20kev-100kev | 20kev-100kev |
入射光窗 | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) |
分辨率 | 50um | ≤50um,10lp/mm | ≤50um,11 lp/mm |
HR-75-X-Ray
400萬像素高分辨率;選用75:25的光纖錐耦合,視野可達(dá)到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140萬像素高分辨率;選用40:11的光纖錐耦合,視野可達(dá)到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
體積小巧,直徑僅55mm,長68mm,易于安裝;分辨率高;動態(tài)范圍好。
量子效率曲線圖
(P43熒光屏(25mg/cm2), 厚度:55um)
定制產(chǎn)品:
我們可根據(jù)客戶的需求定制X-Ray相機(jī)
熒光屏類型和厚度
附加層(如Alu,ITO)
輸入窗口類型和厚度
相機(jī)電子部分(如計算機(jī)接口)
制冷(針對于部分型號)
真空接口
視野大小
空間分辨率
應(yīng)用領(lǐng)域
醫(yī)學(xué)成像設(shè)備:
牙科X光成像
眼科成像
X射線斷層成像
局部骨骼成像
工業(yè)檢測設(shè)備:
PCB或BGA 檢查
半導(dǎo)體缺陷檢查
食品安全檢查
X光光斑成像
無損探傷
電線檢查
安防設(shè)備:
紫外線導(dǎo)彈預(yù)警
距離選通激光雷達(dá)
夜視相機(jī)
爆炸物探測
指紋獲取
火災(zāi)探測
暫無數(shù)據(jù)!